[发明专利]用于倾斜角度X射线辐射的X射线探测器设备

说明书

本发明涉及用于以相对于X射线辐射的倾斜角度来探测所述X射线辐射的X射线探测器设备(10)、X射线成像系统(1)、X射线成像方法、和用于控制这样的设备或系统以执行这样的方法的计算机程序单元、以及存储有这样的计算机程序单元的计算机可读介质。所述X射线探测器设备(10)包括阴极表面(11)和阳极表面(12)。所述阴极表面(11)和所述阳极表面(12)被分离层(13)分开，以允许响应于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的、在所述阴极表面(11)与所述阳极表面之间(12)的电荷传输(T)。所述阳极表面(12)被分割为阳极像素(121)并且所述阴极表面(11)被分割为阴极像素(111)。所述阴极像素(111)中的至少一个在相对于所述阴极表面(11)倾斜的耦合方向(C)上被分配到所述阳极像素(121)中的至少一个。所述阴极像素(111)中的至少一个被配置为相对于邻近阴极像素处于电压偏置，并且所述阳极像素(121)中的至少一个被配置为相对于邻近阳极像素(121)处于电压偏置。所述电压偏置被配置为使电荷传输(T)汇聚于平行于所述耦合方向(C)的方向上。

技术领域

本发明涉及用于以倾斜角度探测X射线辐射的X射线探测器设备、X射线成像系统、X射线成像方法、和用于控制这样的设备或系统以执行这样的方法的计算机程序单元、以及存储有这样的计算机程序单元的计算机可读介质。

背景技术

WO 2010/015959(A2)公开了一种用于成像设备的X射线光子探测器，所述成像设备包括阴极、转换器材料以及基底。所述阴极包括向外延伸的盘以及底盘。所述转换材料被附接到所述向外延伸的盘的侧面。所述基底包括阳极并且被附接到所述转换材料。

WO 2013/088352 A2公开了一种辐射探测器，其具有分别被分割为阳极段和阴极段的阳极和阴极。这里，各阳极段被提供有相互不同的电势。针对阴极段采用类似的方法。

US 5111052公开了一种辐射传感器，其具有半导体基底，所述半导体基底被提供有常规电极和设置于所述基底的同一表面上的分裂式电极。

用于X射线成像的X射线探测能够利用这样的半导体X射线探测器来进行，所述半导体X射线探测器被布置为垂直于X射线辐射或者非垂直地倾斜于X射线。倾斜或侧向探测相比于垂直或面向探测具有若干优点，其中有针对具有低原子序数的材料(如，例如硅)的改善的探测量效率。

然而，在倾斜探测的情况下并且特别是在使用较低原子序数探测器材料的情况下，进入到X射线探测器中的X射线辐射可能在若干探测器电极之间共享，造成空间图像分辨率损失。

具体地，在倾斜探测的情况下，在探测器阴极与探测器阳极之间的电场的方向相对于入射X射线辐射的方向形成一角度，其等于入射X射线辐射相对于X射线探测器的表面法线的倾斜角度。在探测器阴极与探测器阳极之间传输(转移transfer)的电荷然后能够由例如两个相邻探测器阳极中的任一个探测器阳极来收集。因此，电荷可能相对于实际相互作用部位的横向位置被错误地分配，其可能造成劣化的横向图像分辨率并且因此造成空间图像分辨率损失。

发明内容

因此，可能需要提供一种用于以相对于X射线辐射的倾斜角度来探测X射线辐射的经改进的X射线探测器设备，其允许在倾斜角度辐照X射线探测中的降低的空间图像分辨率损失。

本发明的问题是通过独立权利要求的主题得以解决的，其中，在从属权利要求中并入了另外的实施例。应当指出，在下文中所描述的本发明的各方面也适用于X射线探测器设备、X射线成像系统、X射线成像方法、计算机程序单元、以及计算机可读介质。

根据本发明，提出了一种X射线成像探测器。所述X射线探测器设备包括阴极表面和阳极表面。所述阴极表面和所述阳极表面被分离层分开，以允许响应于在所述阴极表面上操作期间入射的X射线辐射的、在所述阴极表面与所述阳极表面之间电荷传输。