[发明专利]用于倾斜角度X射线辐射的X射线探测器设备

权利要求书

1.一种用于以相对于X射线辐射的倾斜角度来探测所述X射线辐射的X射线探测器设备(10)，包括：

阴极表面(11)，以及

阳极表面(12)，

其中，所述阴极表面(11)和所述阳极表面(12)被分离层(13)分开，以允许响应于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的、在所述阴极表面(11)与所述阳极表面(12)之间的电荷传输(T)，

其中，所述阳极表面(12)被分割为阳极像素(121)，

其中，所述阴极表面(11)被分割为阴极像素(111)，

其中，所述阴极像素(111)中的至少一个被分配到所述阳极像素(121)中在相对于所述阴极表面(11)倾斜的耦合方向(C)上的至少一个，

其中，所述阴极像素(111)中的所述至少一个被配置为相对于邻近阴极像素处于电压偏置，

其中，所述阳极像素(121)中的所述至少一个被配置为相对于邻近阳极像素(121)处于电压偏置，

其中，所述电压偏置被配置为使所述电荷传输(T)汇聚于平行于所述耦合方向(C)的方向上，并且其中，所述电压偏置取决于所述阴极表面(11)与所述耦合方向(C)之间的倾斜角度(α)，并且其中，所述耦合方向(C)平行于在所述阴极表面(11)上操作期间入射的X射线辐射的射束的对称轴。

2.根据权利要求1所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述电压偏置与在任意第一阴极像素与第二阴极像素之间的阴极像素(111)的偏置数x成反比，其中，所述第二阴极像素被限定为与同所述第一阴极像素在垂直于所述阴极表面(11)的方向(N)上对齐的阳极像素处在等势线(P)上。

3.根据权利要求1所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述电压偏置与在任意第一阳极像素与第二阳极像素之间的阳极像素(121)的偏置数x成反比，其中，所述第二阳极像素被限定为与同所述第一阳极像素在垂直于所述阴极表面(11)的方向(N)上对齐的阴极像素处在等势线(P)上。

4.根据权利要求1所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述电压偏置是其中，U_C是阴极像素的阴极电压，其中，U_A是阳极像素(121)的阳极电压，其中，所述阴极像素和所述阳极像素(121)在垂直于所述阴极表面(11)的方向(N)上对齐，其中，p是阳极间距，其中，d是所述阴极表面(11)与所述阳极表面(12)之间的距离，并且其中，是所述耦合方向(C)与所述阴极表面(11)法向(N)之间的角度。

5.根据权利要求4所述的X射线探测器设备(10)，其中，比率p/d在0.5与7之间。

6.根据权利要求5所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述比率p/d在0.5与5之间。

7.根据权利要求6所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述比率p/d在0.7与4之间。

8.根据权利要求1-4中的任一项所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述阴极表面(11)与所述耦合方向(C)之间的所述倾斜角度(α)在5°与89°之间。

9.根据权利要求8所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述倾斜角度(α)在10°与60°之间。

10.根据权利要求9所述的X射线探测器设备(10)，其中，所述倾斜角度(α)在15°与50°之间。

11.一种X射线成像系统(1)，包括：

根据权利要求1-10中的任一项所述的X射线探测器设备(10)，以及

X射线管(20)，其被配置为以X射线辐射的射束的对称轴与所述X射线探测器设备(10)的阴极表面(11)之间的倾斜角度来生成在所述阴极表面上操作期间入射的X射线辐射的所述射束。