[发明专利]用于双模式传感器系统的系统和方法

说明书

优先权申请和相关申请以及优先权申请和相关申请的任何和所有的父、祖父、曾祖父等的申请的所有主题，包括任何优先权要求，在这样的主题并不与本发明相悖的程度下通过引用并入本文。

技术领域

本发明涉及用于产生区域内的实体的图像的系统和方法。具体地，本发明提供用于使用与例如娱乐设备组合的双模式传感器(例如，超声波和电磁辐射)的系统和方法。

背景技术

系统可利用双模式传感器产生图像数据。该系统可以使用第一模式以产生实体的粗质图像数据。然后，该系统可以使用该粗质图像数据来识别实体的感兴趣部分。该系统可以使用第二模式以产生所识别的感兴趣部分的精细图像数据。

例如，在各种实施方式中，系统可以包括一个或多个超声波发射器和/或接收器来实现第一模式。在一些实施方式中，发射器和/或接收器可以体现为一个或多个收发器。超声波发射器可以被配置成发射超声波到由一个或多个表面界定的区域中。超声波接收器可以接收来自区域内的一个或多个实体的直接超声波反射。如下面详细描述的，系统可以使用超声波发射器和/或接收器，以产生实体的粗质图像数据，并基于所述粗质图像数据识别实体的感兴趣部分。

例如，在某些实施方式中，系统还可以被配置成经由电磁接收器接收来自区域内的实体的电磁反射。该系统可以使用所接收的电磁反射产生所识别的感兴趣部分的精细图像数据。例如，在经由粗质图像数据识别感兴趣部分之后，该系统可以接收来自所识别的感兴趣部分的电磁辐射，并产生具有比在粗质图像数据中可获得的分辨率更高的分辨率的图像数据(本文称作精细图像数据)。

在一些实施方式中，双模式可被用于解决至少一种模糊性。例如，从第一模式接收的图像数据可以包括诸如重影之类的模糊。在这样的例子中，第二模式可以由系统利用以解决由第一模式引入的模糊，例如，在使用第一模式产生的图像数据中的重影。作为具体的例子，所接收的电磁辐射可以由系统利用以校正由所接收的超声波反射引入的重影。

上面所讨论的两种模式(即，电磁成像和超声波)中的任一种可以由系统利用以产生精细图像数据或粗质图像数据。例如，第一实施方式可利用超声波来产生粗质图像数据和利用电磁成像产生精细图像数据，而第二实施方式可利用电磁成像产生粗质图像数据和利用超声波产生精细图像数据。

前面的概述仅是说明性的并不旨在以任何方式进行限制。除了以上描述的说明性方面、实施方式和特征，参照附图和下面的详细描述还展示了进一步的方面、实施方式和特征。

附图说明

图1A示出了发射超声波朝向有界区域内的三个人的定位系统。

图1B示出了由定位系统接收的直接超声波反射和因此由定位系统产生的“重影”。

图2A示出了反弹超声波离开墙壁然后朝向所述三个人的定位系统。

图2B示出了反弹超声波离开墙壁然后朝向所述三个人的定位系统的侧视图。

图3A示出了被配置成通过所述定位系统促进反弹的超声波的发射、反射和/或接收的多个超声波反射器。

图3B示出了被配置成通过所述定位系统促进反弹的超声波的发射、反射和/或接收的多个有源超声波反射器。

图4A示出了在第一位置上的被配置成相对于壁枢转的有源受控超声波反射器，它被安装到所述墙壁上以通过所述定位系统促进反弹的超声波的发射、反射和/或接收。

图4B示出了在第二位置上的有源受控的超声波反射器。

图5示出了根据一个实施方式的定位系统的框图。

图6示出了用于产生描述区域内的一个或多个实体的相对位置的位置数据的方法的流程图。

图7A示出了发射和接收来自静止实体的反射超声波的超声波系统。

图7B示出了发射第一频率的超声波和接收第二频率的来自移动远离超声波系统的实体的反射超声波的超声波系统。

图7C示出了发射第一频率的超声波和接收第二频率的来自朝向超声波系统移动的实体的反射超声波的超声波系统。

图7D示出了类似于图7A的发射和接收来自静止实体的反射超声波的超声波系统。

图7E示出了当实体移动远离超声波系统时来自所述实体的反射超声波的时序延迟。

图8示出了超声波在由移动远离超声波接收器的实体反射之前反弹离开反射器。

图9示出了结合超声波速度和/或加速度检测系统使用的电磁位置检测系统。

图10示出了从一个或多个辅助反射器反射和/或反弹的超声波。