[发明专利]旋转模式生成装置及旋转模式生成方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种针对将材料从进给轴送出而利用卷绕轴进行卷绕的装置，生成进给轴及卷绕轴的旋转模式的旋转模式生成装置及旋转模式生成方法。

背景技术

作为控制张力的装置，在所卷绕的材料从进给轴送出起至被卷绕轴卷绕为止的期间，一边将作用于材料的张力保持固定，一边输送材料。在为了适于材料或者工序，进给轴或卷绕轴的形状偏离正圆、或者进给轴或卷绕轴偏心的情况下，如果将进给轴及卷绕轴的旋转速度保持固定，则张力会发生变动。在该情况下，为了抑制张力的变动，需要使进给轴或卷绕轴的旋转速度进行变动，因此难以与进给轴的旋转速度相对应地决定卷绕轴的旋转速度。在专利文献1中记载有下述情况，即，使用PID(Proportional Integral Derivative)控制，推定为了抑制张力的变动而对卷绕轴的旋转速度进行校正的校正系数，基于校正系数而对卷绕轴的旋转速度进行校正。

专利文献1：日本特开平08-188309号公报

发明内容

在专利文献1中未明确示出推定校正系数的具体的方法，根据推定的方法，校正系数可能发生变动。另外，根据推定的方法，可能无法求出校正系数。并且，根据推定方法，也可能为了追随张力的变动而不得不将校正系数设定得过大，基于校正系数进行的卷绕轴的旋转速度的校正不能充分地追随张力的变动。这样，对于抑制作用于材料的张力的变动，专利文献1的技术存在改善的余地。

本发明就是鉴于上述情况而提出的，其目的在于得到一种旋转模式生成装置，该旋转模式生成装置在将材料从进给轴送出而利用卷绕轴进行卷绕的装置中，生成能够对作用于材料的张力的变动进行抑制的、进给轴及卷绕轴的旋转模式。

为了解决上述的课题、实现目的，本发明的特征在于，具有：进给轴位置检测传感器，其对将所卷绕的材料送出的进给轴旋转时的位置进行检测；卷绕轴位置检测传感器，其对将从所述进给轴送出的所述材料卷绕的卷绕轴旋转时的位置进行检测；张力检测器，其对在所述进给轴与所述卷绕轴之间作用于正在输送的所述材料的张力进行检测；以及处理装置，其使用从所述进给轴送出所述材料而由所述卷绕轴将所送出的所述材料进行卷绕时所得到的、由所述进给轴位置检测传感器检测出的所述进给轴的位置、由所述卷绕轴位置检测传感器检测出的所述卷绕轴的位置、以及由所述张力检测器检测出的所述材料的张力，求出为了使所述材料的张力的变动处于目标的范围内所需的所述进给轴的位置与所述卷绕轴的位置的关系，作为所述进给轴及所述卷绕轴旋转时的旋转模式。

发明的效果

根据本发明会取得下述效果，即，得到一种旋转模式生成装置，该旋转模式生成装置在将材料从进给轴送出而利用卷绕轴进行卷绕的装置中，生成能够对作用于材料的张力的变动进行抑制的、进给轴及卷绕轴的旋转模式。

附图说明

图1是表示卷绕装置及旋转模式生成装置的概要的图。

图2是表示旋转模式生成装置的结构的框图。

图3是表示实施方式1涉及的旋转模式生成装置生成旋转模式时的处理的流程图。

图4是表示在按照通过实施方式1涉及的旋转模式生成方法得到的旋转模式而使进给轴及卷绕轴进行旋转时的、进给轴的位置、卷绕轴的位置以及作用于材料的张力的图。

图5是表示在实施方式2中旋转模式生成装置生成旋转模式时的处理的流程图。

图6是表示进给轴的位置、卷绕轴的位置以及作用于材料的张力的图。

具体实施方式

下面，基于附图，详细地说明本发明的实施方式涉及的旋转模式生成装置及旋转模式生成方法。此外，本发明不限定于下面的实施方式的说明。

实施方式1.

图1是表示卷绕装置10及旋转模式生成装置20的概要的图。卷绕装置10具有：进给轴13，其通过旋转而将卷绕的材料11送出；以及卷绕轴14，其通过旋转而卷绕从进给轴13送出的材料11。通过进给轴13及卷绕轴14进行旋转，卷绕装置10将材料11从进给轴13向卷绕轴14进行输送。

卷绕装置10具有2个支撑辊15，该支撑辊15对从进给轴13向卷绕轴14进行输送的材料11进行支撑。此外，卷绕装置10也可以不具有支撑辊15，也可以具有1个支撑辊15，也可以具有大于或等于3个支撑辊15。