[实用新型]一种面向料盘的SMD抽检及清点设备有效
申请号: | 201521083523.3 | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN205263213U | 公开(公告)日: | 2016-05-25 |
发明(设计)人: | 陈建魁;刘腾;蒋博 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 梁鹏 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面向 smd 抽检 清点 设备 | ||
技术领域
本实用新型属于表面贴装器件制造相关设备领域,更具体地,涉及一 种面向料盘的SMD抽检及清点设备。
背景技术
随着电子工业的蓬勃发展,为了实现电子产品的微型化,以及极大地 提升生产效率,SMT(SurfaceMountTechnology,表面贴装技术)应运而 生。所谓SMT,是将SMD(SurfaceMountedDevices,表面贴装器件)安 装到PCB上的电子组装技术,是现在PCB贴装的关键技术之一。与传统电 子元件安装技术相比,SMT具有可靠性强、高频特性好、元器件体积小、能 实现自动化生产等特点,因而在进入21世纪后得到了快速发展。
然而,现有SMT技术中亟待解决的技术问题之一就是如何实现SMD料 盘上元件的高效率、高精度的实时检测及清点操作。虽然现有设备中也提 出了一些可实现SMD料盘检测的器件,但进一步的研究表明,仍然存在以 下的主要不足:第一:现有设备往往采用的是对SMD料盘进行全检的工作 模式,显然会带来工作效率低、浪费资源等问题;第二:在检测方式方面, 现有设备往往采用的是先用真空吸取头吸取SMD,然后再转置于检测平台执 行检测,这样会出现两方面的主要缺陷,一方面是检测平台受限于固定的 结构配置,其能够准确检测的元件种类和类型往往偏少,另一方面则是拾 取与检测工序分开,在实际操作中会严重降低总体的检测效率,特别是会 直接影响到检测精度;第三:在实际工况中很多时候需要在对SMD料盘进 行点料的同时,还能够高精度、适用性强地现定量分切,但是现在设备有 设备不能够提供此方面的功能要求。
实用新型内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本实用新型提供了一种面向料 盘的SMD抽检及清点设备,其中通过对其整体组成构造及各单元的功能配 置进行了全新设计,尤其是对其关键组件如夹爪、盛料料盘等本身的具体 结构以及拾取检测单元、点料单元与盛料单元彼此之间的相互关系进行改 进,相应能够以整体构造紧凑、便于操控、高效率和高精度的方式实现对 SMD料盘的抽检及清点,同步实现元件的拾取与检测操作,并尤其适用于大 规模批量化生产的工业用途。
为实现上述目的,按照本实用新型,提供了一种面向料盘的SMD抽检 及清点设备,其特征在于,该SMD抽检及清点设备包括点料单元、拾取检 测单元以及盛料单元,其中:
所述点料单元整体设置在工作台上,包括放料端、收料端、分切机构 和标签打印机,其中该放料端和收料端各自由电机驱动的转盘构成且保持 相互平行地设置,由此用于将缠绕在转盘上的料带予以输送及回收;该分 切结构设置在料带输送路径中,用于实现对料带的定量分切;该标签打印 机则用于实时打印出相应的标签,并粘贴于检测后的料盘之上;
所述拾取检测单元设置在工作台上且处于所述放料端同一侧,包括X 轴机械手、Y轴机械手、Z轴机械手和拾取头,其中该X轴机械手、Y轴机 械手和Z轴机械手三者彼此相互垂直地安装,并构成拾取检测单元的骨架; 该拾取头设置在所述Z轴机械手的下部末端且配备有水平同步带,用于实 现其在X/Y/Z轴三个方向上的平动、以及绕着Z轴方向的旋转;此外,所 述拾取头包括夹爪、柔性探针和柔性导电头,其中该夹爪同轴安装在所述 水平同步带的下侧,用于提供拾取头对待检元件的夹持力;该柔性探针绝 缘安装在所述夹爪的底端,用于确保对待检元件执行柔性接触的同时,还 实现对待检元件的电气检测;该柔性导电头则包裹在各个柔性探针的端部, 并用于在与待检元件接触时发生变形,由此增大此导电头与待检元件之间 的接触面积,并确保与待检元件的引脚实现稳定的连通;
所述盛料单元包括待检元件盛料盘、废料桶和脆盘,这三者均设置在 工作台台面上,并设置为处于同一直线上;其中该待检元件盛料盘用于盛 放从所述料带上剥离下来的待检元件,并且它的盘面上安装有疏松多孔结 构,用于适应不同规格待检元件的吸附;该废料桶用于盛放经检测后不合 格的元件,该脆盘则用于盛放经检测后合格的元件。
作为进一步优选地,上述SMD抽检及清点设备还配备有辅助单元,该 辅助单元包括离子风发生器、显示装置和人机交互装置,其中离子风发生 器包括两套,分别设置在所述放料端和所述收料端附近,用于对检测区域 执行静电消除。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201521083523.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。