[实用新型]基于半导体制冷片的高低温老化测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及高低温老化测试领域，特别涉及一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备。

背景技术

电子产品，不管是原件、部件、整机、设备都要进行老化和测试。老化和测试不是一个概念，先老化后测试；电子产品（所有的产品都这样）通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后会发现会有这样或那样的毛病，又发现这些毛病绝大多数就发生在刚开始的几小时和几十个小时之内，后来干脆就规定电子产品的老化和测试，仿照或者等效产品的使用状况，通过测试把有问题的产品留在工厂，没有问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题少的，这就是老化测试的意义。老化分为元器件老化和整机老化，尤其是新产品，在考核新的元器件和整机的性能，老化指标更高。

老化测试包括：紫外老化、氙灯老化、臭氧老化、湿热循环、高低温老化、盐雾测试等。

高低温老化试验是针对高性能电子产品（如：计算机整机、车用电子产品、电源供应器、主机板、监视器等）仿真出高温、低温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、冷却系统、温度控制系统、时间控制系统、测试负载等，通过此测试程序可检杳出不良品或不良件，使客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段，充分提高客户生产效率和产品品质。

高低温老化测试属于比较常规的测试项目，在常规光学芯片的性能测试中，是不可缺少的一环。考虑到常规光学芯片的体积很小，使用大型高低温测试设备不仅能耗过大，而且占用太多空间，同时噪音较大。当下，光学芯片的高低温老化测试普遍采用两套设备，即通用型高温老化实验箱和通用型低温老化试验箱。通用型高低温老化试验箱普遍内部箱体空间较大，相对尺寸在毫米级的光学芯片，显然有些大马拉小车之嫌；还有些高低温老化测试是同时采用两套设备，但是占用场地空间较大；有些也使用高低温老化试验机，设备内仅有一个箱体，不能同时进行高低温老化实验；另外，现有低温老化测试机普遍采用压缩机制冷，噪音不可避免。

实用新型内容

实用新型目的：针对现有技术中存在的问题，本实用新型提供一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，能够同时对产品进行高低温老化测试，解决了现有技术中设备占地大且存在噪音的缺点。

技术方案：本实用新型提供了一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，包括高温老化室、低温老化室、至少一组多级半导体制冷片，所述高温老化室与所述低温老化室之间通过隔热板隔开，所述多级半导体制冷片位于所述隔热板内，且所述多级半导体制冷片的热端与所述高温老化室内的高温散热片有效接触，所述多级半导体制冷片的冷端与所述低温老化室内的低温散热片有效接触。

进一步地，所述高温老化室内设有高温强对流风扇。

优选地，所述高温强对流风扇靠近所述高温散热片设置。

进一步地，所述低温老化室内设有低温强对流风扇。

优选地，所述低温强对流风扇靠近所述低温散热片设置。

进一步地，所述高温散热片内还内置有高温强制水冷系统。

优选地，所述高温老化室内还设有高温热电偶，所述低温老化室内还设有低温热电偶。

优选地，所述高温老化室和所述低温老化室的各侧壁以及所述隔热板均由纳米微孔隔热材料制成。

有益效果：本实用新型中的高低温老化测试设备中，高温老化室与低温老化室之间通过多级堆叠半导体制冷片搭起热传递的桥梁，借助多级堆叠半导体制冷片的热量转移作用，将低温老化室内的热量转移到高温老化室，实现高低温老化同步进行的同时减少了单独进行高温老化和低温老化所需设备的占用空间，另外，给多级堆叠半导体制冷片通直流电流就可以实现制冷或制热，无噪音污染，无制冷剂污染。

附图说明

图1为本实用新型的外观结构示意图；

图2为本实用新型去掉高低温老化室门板后的结构示意图；

图3为图2的正视图；

图4为图2去掉右侧侧壁的右视图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型进行详细的介绍。