[实用新型]基于半导体制冷片的高低温老化测试设备

权利要求书

1.一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，包括高温老化室（1）、低温老化室（2）、至少一组多级堆叠半导体制冷片（3），所述高温老化室（1）与所述低温老化室（2）之间通过隔热板（4）隔开，所述多级堆叠半导体制冷片（3）位于所述隔热板（4）内，且所述多级堆叠半导体制冷片（3）的热端与所述高温老化室（1）内的高温散热片（11）有效接触，所述多级堆叠半导体制冷片（3）的冷端与所述低温老化室（2）内的低温散热片（21）有效接触。

2.根据权利要求1所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温老化室（1）内设有高温强对流风扇（12）。

3.根据权利要求2所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温强对流风扇（12）靠近所述高温散热片（11）设置。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述低温老化室（2）内设有低温强对流风扇（22）。

5.根据权利要求4所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述低温强对流风扇（22）靠近所述低温散热片（21）设置。

6.根据权利要求1~3或5中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温散热片（11）内还内置有高温强制水冷系统（13）。

7.根据权利要求1~3或5中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温老化室（1）内还设有高温热电偶（14），所述低温老化室（2）内还设有低温热电偶（24）。

8.根据权利要求1~3或5中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温老化室（1）和所述低温老化室（2）的各侧壁以及所述隔热板（4）均由纳米微孔隔热材料制成。