[实用新型]一种MIS晶体硅太阳能电池有效
申请号: | 201520878065.6 | 申请日: | 2015-11-04 |
公开(公告)号: | CN205122598U | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 石强;秦崇德;方结彬;黄玉平;何达能;陈刚 | 申请(专利权)人: | 广东爱康太阳能科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/068 |
代理公司: | 佛山市中迪知识产权代理事务所(普通合伙) 44283 | 代理人: | 张伶俐 |
地址: | 528100 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mis 晶体 太阳能电池 | ||
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池技术领域,尤其涉及一种MIS晶体硅太阳能电池。
背景技术
太阳能电池分为薄膜太阳能电池和晶体硅太阳能电池,不管是哪种形式的电池,p-n上的电子都需要通过金属电极进行收集,因此金属电极在太阳能电池结构上发挥着举足轻重的作用。晶体硅太阳能电池正面的电子通过Ag主栅线和Ag副栅线进行收集,由于Ag价格高,地球储备量有限,极大的制约了太阳能电池的普及。目前很多研究者和电池制造商将研究的重点放在Ag的替代材料上,在降低太阳能电池的制造成本上做了很多的工作,也取一定的成果。
Ag的替代材料有Al和Cu,其价格比Ag低很多,但在制备太阳能电池上有很多的弊端:采用Al,由于Al为P型导体,Al和P型硅太阳能电池的N+层直接接触,会再次形成p-n结,会大幅度降低太阳能电池的转换效率;因为Cu会破坏p-n结,因此Cu和硅的中间必须有金属层进行隔绝,工艺复杂,且Cu在烧结时氧化严重。因此,如何开发一种新的晶体硅太阳能电池工艺,在将Ag进行替换的同时,能保证或者进一步提升太阳能电池的转换效率。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于,提供一种MIS晶体硅太阳能电池,用Al正电极替换传统的Ag正电极,降低了制造成本,提升了电池转换效率。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种MIS晶体硅太阳能电池,从下往上依次包括Ag背电极、Al背场、P型硅、N+层、隧穿层、减反膜和Al正电极,Al背场、P型硅、N+层、隧穿层和减反膜为层叠式设置,所述隧穿层沉积在N+层上,所述减反膜沉积于隧穿层上而没沉积在Al正电极上。
作为上述方案的改进,所述隧穿层的厚度为0.5-2nm。
作为上述方案的改进,所述隧穿层为二氧化硅层或氮化硅层。
作为上述方案的改进,所述Al正电极由Al主栅线和Al副栅线组成,且Al主栅线与Al副栅线相互垂直。
作为上述方案的改进,所述Al主栅线的根数为2-5根,Al副栅线的根数为90-120根。
作为上述方案的改进,所述Al正电极通过丝网印刷Al浆制成。
作为上述方案的改进,所述减反膜为SiNx:H膜,厚度为75-90nm,折射率为2.05-2.15。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:Al正电极取代传统昂贵的Ag正电极,Al正电极-隧穿层-N+层形成MIS结构,利用MIS隧穿效应,使得N+层硅收集的电子可以完全穿透绝缘的隧穿层和Al正电极接触,从而将电子导出;Al正电极因为有隧穿层的隔离,和N+层无直接接触,不会再次形成p-n结,不会影响电池的转换效率;本实用新型可以大大降低制造成本,提升转换效率。
附图说明
图1是现有技术的晶体硅太阳能电池结构示意图;
图2是图1的俯视图;
图3是本实用新型的一种MIS晶体硅太阳能电池的结构示意图;
图4是图3的俯视图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型作进一步地详细描述。
如图1、图2所示:现有技术的晶体硅太阳能电池结构从下往上依次为Ag背电极1′、Al背电场2′、P型硅3′、N+层4′、减反膜5′和Ag正电极6′,太阳能电池的Ag正电极由Ag主栅线61′和Ag副栅线62′组成,Ag主栅线61′和Ag副栅线62′垂直,Ag主栅线61′相互平行且均匀分布,Ag副栅线62′相互平行且均匀分布。
如图3、图4所示,本实用新型的一种MIS晶体硅太阳能电池,从下往上依次包括Ag背电极1、Al背场2、P型硅3、N+层4、隧穿层5、减反膜6和Al正电极7,Al背场2、P型硅3、N+层4、隧穿层5和减反膜6为层叠式设置,隧穿层5沉积在N+层4上,减反膜6沉积于隧穿层5上而没沉积在Al正电极7上。
隧穿层5的厚度为0.5-2nm,隧穿层5的厚度直接影响MIS器件的隧穿效果,一般厚度越薄,隧穿效果要好;但是,厚度越薄,越容易导致隧穿层5厚度不均匀,同样会影响隧穿效果。
隧穿层5为二氧化硅层或氮化硅层,隧穿层5是绝缘层,二氧化硅层或氮化硅层效果差不多。
Al正电极7由Al主栅线71和Al副栅线72组成,Al主栅线71和Al副栅线72相互垂直;Al主栅线71的根数为2-5根,Al副栅线72的根数为90-120根;Al正电极7通过丝网印刷Al浆的方法制备。
减反膜6为SiNx:H膜,厚度为75-90nm,折射率为2.05-2.15。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的