[实用新型]影像传感芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 201520780060.X 申请日: 2015-10-10
公开(公告)号: CN205050839U 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: 王之奇;王卓伟;谢国梁 申请(专利权)人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215026 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 影像 传感 芯片 封装 结构
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及半导体技术领域,尤其涉及晶圆级半导体芯片的封装结构。

背景技术

现今主流的半导体芯片封装技术是晶圆级芯片尺寸封装技术(WaferLevelChipSizePackaging,WLCSP),是对整片晶圆进行封装并测试后再切割得到单个成品芯片的技术。利用此种封装技术封装后的单个成品芯片尺寸与单个晶粒尺寸差不多,顺应了市场对微电子产品日益轻、小、短、薄化和低价化要求。晶圆级芯片尺寸封装技术是当前封装领域的热点和未来发展的趋势。

请参考图1,公开一种晶圆级影像传感芯片的封装结构,晶圆1与保护基板2对位压合,支撑单元3位于晶圆1与保护基板2之间使两者之间形成间隙,避免保护基板2与晶圆1直接接触,晶圆1包括多颗网格状排布的影像传感芯片10,影像传感芯片10包括影像传感区11以及焊垫12,多个支撑单元3网格状排布于保护基板2上且与影像传感芯片10对应,当保护基板2与晶圆1对位压合后,支撑单元3包围影像传感区11,晶圆1具有第一表面以及与所述第一表面相背的第二表面,影像传感区11以及焊垫12位于晶圆的第一表面侧。

为了实现焊垫12与其他电路电连接,在晶圆1的第二表面侧设置有朝向第一表面延伸的开孔22,开孔22与焊垫12对应且开孔22的底部暴露出焊垫12,在开孔22的侧壁设置有绝缘层23,绝缘层23上以及开孔22的底部设置有再布线层24,再布线层24与焊垫12电连接,焊球25与再布线层24电连接,通过焊球25电连接其他电路实现焊垫12与其他电路之间形成电连接。

为了便于将封装完成的影像传感芯片切割下来,于晶圆1的第二表面设置有朝向第一表面延伸的切割槽21。

在向晶圆1的第二表面排布焊球25之前,需要涂布防焊油墨26,通常在切割槽21以及开孔22中也填充了防焊油墨26以达到保护、绝缘的效果。

然而,由于防焊油墨26填满开孔22,在后续的回流焊以及信赖性测试中,防焊油墨26的热胀冷缩形成作用于再布线层24的力,在这种力的拉扯下,再布线层24容易与焊垫12脱离,导致不良,成为本领域技术人员噬待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型解决的问题是通过本实用新型提供新型的影像传感芯片封装结构,消除再布线层与焊垫脱离的情况,解决不良,提高影像传感芯片封装结构的信赖性。

为解决上述问题,本实用新型提供一种影像传感芯片封装结构,包括:基底,具有第一面以及与所述第一面相背的第二面;位于所述基底第一面的影像传感区以及焊垫;位于所述第二面并向所述第一表面延伸的开口,所述开口与所述焊垫对应并暴露出所述焊垫;包覆所述基底侧面的第一感光油墨;所述封装结构还包括第二感光油墨,所述第二感光油墨覆盖所述开口并在所述开口中形成空腔。

优选的,所述封装结构还包括:与所述基底第一面对位压合的保护基板;位于所述保护基板与所述基底之间的支撑单元,所述支撑单元包围所述影像传感区;所述第一感光油墨包覆部分所述支撑单元的侧面。

优选的,所述第一感光油墨的粘度小于第二感光油墨的粘度。

优选的,所述第一感光油墨的粘度小于8Kcps,所述第二感光油墨的粘度大于12Kcps。

优选的,所述封装结构还包括:位于所述开孔中的绝缘层;位于所述绝缘层上以及开孔底部的再布线层,所述再布线层与所述焊垫电连接;所述第二感光油墨覆盖所述再布线层,且在所述第二感光油墨上设置有通孔,所述通孔暴露出所述再布线层;通孔中设置有焊球,所述焊球与所述再布线层电连接。

优选的,所述绝缘层为有机绝缘层。

优选的,所述封装结构还包括:位于所述开孔中的绝缘层;位于所述绝缘层上以及开孔底部的再布线层,所述再布线层与所述焊垫电连接;所述第二感光油墨覆盖所述再布线层,且在所述第二感光油墨上设置有通孔,所述通孔暴露出所述再布线层;通孔中设置有焊球,所述焊球与所述再布线层电连接;对应焊球位置,位于绝缘层与再布线层之间的缓冲层。

优选的,所述绝缘层为二氧化硅绝缘层。

优选的,所述缓冲层为光阻缓冲层。

优选的,所述第一感光油墨覆盖包覆所述基底靠近第一面的部分侧壁,所述第二感光油墨覆盖包覆所述基底靠近第二面的部分侧壁。

本实用新型的有益效果是在开孔中形成空腔,有效避免了再布线层与焊垫脱离的情况,提升了影像传感芯片的封装良率,提高了影像传感芯片封装结构的信赖性。

附图说明

图1为现有技术中晶圆级影像传感芯片的封装结构示意图;

图2晶圆级影像传感芯片的结构示意图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州晶方半导体科技股份有限公司,未经苏州晶方半导体科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520780060.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top