[实用新型]镀膜后硅片缺陷检测分选设备有效

专利信息
申请号: 201520427485.2 申请日: 2015-06-19
公开(公告)号: CN204866575U 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 孙智权;童钢;赵不贿;张千;周奇 申请(专利权)人: 镇江苏仪德科技有限公司
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 张华蒙
地址: 212013 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 镀膜 硅片 缺陷 检测 分选 设备
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于太阳能电池片生产领域,具体涉及镀膜后硅片缺陷检测分选设备。

背景技术

太阳能电池是光能转换为电能的核心载体,镀膜后硅片是太阳能电池的主要来源。镀膜质量的好坏直接影响后续工艺中太阳能电池片印刷的质量,决定着整个太阳能系统的效率和性能。因此,对镀膜后硅片进行缺陷检测和分选是必须的。但由于石墨舟、外界环境、人工操作等因素的影响,镀膜后硅片会出现发黄片、均匀红片、发白片、污渍片、碎片等不同类别的硅片。

现有的技术中基本是通过人工目测检测和分选,不仅效率低,而且容易发生漏检、漏分、错分现象。

实用新型内容

发明目的:本实用新型的目的在于提供镀膜后硅片缺陷检测分选设备,能高效、稳定、快速地对镀膜后硅片进行缺陷检测和分选。

技术方案:为实现上述发明目的,本实用新型采用如下技术方案:

镀膜后硅片缺陷检测分选设备,包括传送带,所述的传送带依次贯穿设置在下料机械装置和暗箱的下方,再经第一单轴机械臂和第二单轴机械臂的下方穿过直至与合格硅片传送装置相连接,所述的传送带设置在金属横梁上,金属横梁固定在机柜上;在所述的下料机械装置内设有用于放置镀膜后硅片的花篮;所述的暗箱通过支架设置在机柜上,在所述的暗箱内的顶部设有配合使用的工业相机和镜头,在镜头的下方设有圆顶光源,在所述的暗箱正下方放置传送带的金属横梁上镶嵌设置白色背景板,在白色背景板上设有光电传感器。

所述的传送带从暗箱底部的支架上穿过,传送带的上表面贴紧暗箱的底部。

所述的合格硅片传送装置与硅片收集盒相连。

所述的传送带为白色无标识的传送带。

在所述的第一单轴机械臂和第二单轴机械臂上均分别设有两个双向吸盘。

有益效果:与现有技术相比,本实用新型的镀膜后硅片缺陷检测分选设备,可以对镀膜后硅片进行实时、在线、稳定、高效、快速的缺陷检测和分选,且生产线无需停顿,对硅片非接触式,无损耗;不仅结构紧凑,易于保养和维护,而且实现了对均匀红片的回收利用,降低了生产成本,具备很好的实用性。

附图说明

图1是镀膜后硅片缺陷检测分选设备的主视图;

图2为嵌有光电传感器的白色背景板俯视图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步的说明。

如图1~2所示,镀膜后硅片缺陷检测分选设备,包括传送带15,传送带15依次贯穿设置在下料机械装置1和暗箱3的下方,再经第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7的下方直至与合格硅片传送装置8相连接,传送带15设置在金属横梁上,金属横梁固定在机柜10上;在下料机械装置1内设有用于放置镀膜后硅片14的花篮2,待检的镀膜后硅片14经花篮2流出后直接落在传送带15上。

暗箱3通过支架设置在机柜10上,暗箱3和支架可以是一体式的结构也可以是分体式的结构,分体结构更有利于暗箱3内部部件的保养和维护。在暗箱3内的顶部设有配合使用的工业相机11和镜头12,在镜头12的下方设有圆顶光源13,在暗箱3正下方放置传送带15的金属横梁上镶嵌设置白色背景板4,在白色背景板4上设有光电传感器16。传送带15从暗箱3底部的支架上穿过,传送带15的上表面贴近暗箱3的底部。

在第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7上均分别设有两个双向吸盘,吸盘用于分选镀膜后硅片。其中,第一单轴机械臂6将废弃不合格品挑选出,第二单轴机械臂7将均匀红片挑选出,分选后送入指定硅片盒。合格硅片传送装置8与硅片收集盒9相连,分选后合格的硅片经传送带15流入硅片收集盒9中。

在机柜10的顶部设有配合暗箱3和机柜10使用的工控机5。下料机械装置1通过气缸驱动。

传送带15没有任何标识,传送带15为白色,使得镀膜后硅片14能好的被识别,为硅片的分选做准备。

工作过程:镀膜后硅片14依次从由机柜10及气缸调度的下料机械装置1中的花篮2流出,当其在白色传送带15上流动到暗箱3内部、工业相机11下方、白色背景板4上方时,遮挡住光电传感器16,通过工控机5触发工业相机11和镜头12采集图像,同时传递给机柜10,机柜10控制第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7进行相应的机械动作,将废弃不合格品由机械臂6挑选出、将均匀红片由机械臂7挑选出后续回收利用,而合格品则全部经合格硅片传送装置8流送到硅片收集盒9中。

本实用新型的镀膜后硅片缺陷检测和分选设备可以快速、稳定、可靠地检测镀膜后硅片的缺陷,并将硅片分类筛选,分为合格品类、废弃不合格品类、均匀红片类,合格品类直接由合格硅片传送装置传输到硅片收集盒中,废弃不合格品类和均匀红片类分别由第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7的两个吸盘实时吸入指定硅片盒。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于镇江苏仪德科技有限公司,未经镇江苏仪德科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520427485.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top