[实用新型]一种插损、回损、波长相关损耗测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种能够对光器件的插损、回损、波长相关损耗等指标参数测试的装置，特别涉及一种高效的插损、回损、波长相关损耗测试装置，属于光通信领域。

背景技术

插损、回损、波长相关损耗是光器件的常见的产品指标。对于这三个参数的测试，传统的单项测试方法，对于每一项参数需要使用激光器，功率探测器，光谱仪等设备，浪费大量的人力物力。在市面上相关的集成测试设备，价格都比较昂贵，维护的费用也很高。测试的成本最终都均摊到产品上了。随着光器件厂商之间的竞争日趋激烈，成本已成为重要的核心竞争力。而测试环节是生产的必须环节，测试成本直接影响产品的成本。本实用新型将三种参数的测量集中在一套系统中，共用激光器，功率探测器，光谱仪等设备，减少了设备的投入。整个系统采用自动化以及计算机化的工作方式减少了人力成本。

发明内容

本实用新型克服现有技术存在的缺陷，本实用新型提出一种高效低成本的测试装置，可以大大减少测试成本。

本实用新型的技术方案是：

一种高效的插损、回损、波长相关损耗测试装置，包括宽谱激光器、第一光电探测器、第二光电探测器，第三光电探测器、2×2分光器、1×2分光器、 第一隔离器、第二隔离器、1×N光开关、光谱仪、控制电路，宽谱激光器与2×2分光器输入端相连接，2×2分光器的一路输出端接入第一隔离器，第一隔离器接入第二光电探测器；2×2分光器的反射端接入第一光电探测器；第二隔离器的输出端接1×2分光器的公共端；1×2分光器的一路分光端接入第三光电探测器，另一路分光端接入1×N光开关，1×N光开关输出端接光谱仪；控制电路控制连接1×N光开关、宽谱激光器、光谱仪、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器。

所述控制电路接入实现人机交互的装置，该装置控制有高低温箱，该高低温箱放置待测器件。

所述控制电路接入实现人机交互的装置。

所述人机交互装置采用个人电脑。

所述宽谱激光器采用ASE激光器，其波长范围为1528nm～1603nm，出光功率为5dBm。

所述第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器采用高灵敏度、平面结构的InGaAs光电二极管。

所述1×N光开关的N-1个输入端中的任意应用端口接入设置有待测光谱系统。

所述待测光谱系统采用TOF光谱测试系统。

本实用新型具有如下优点：

1、本实用新型装置低成本测试插损回损波长相关损耗，除了光谱仪和激光器，大部分都是无源器件，价格便宜，可靠性高，便于维护，以最低的成本投入实现光器件插损、回损、波长相关损耗指标的测试；

2、本实用新型装置通过在在个人电脑的人机交互软件，可以实现全自动化 和信息化的测试，大大减少人工干预，降低测试成本，提高生产效率，缩短生产周期。平均每测试一个需要30分钟，一天按8小时计算，一个工位可测试960个。

3、本实用新型装置可以灵活的在个人电脑上编写控制软件对工位和产品测试单进行信息化管理，接入工厂信息管理系统。

附图说明

图1、本实用新型的第一种高效的插损回损波长相关损耗测试装置示意图；

图2、本实用新型的第二种高效的插损回损波长相关损耗测试装置示意图；

其中:

1:宽谱激光器；          2:第一光电探测器；

3:2×2分光器；          4:第一隔离器；

5:第二光电探测器        6:待测器件；

7:第二隔离器；          8:1×2分光器；

9:1×N光开关；          10:光谱仪；

11:第三光电探测器；     12:控制电路；

13:个人电脑；           14:高低温箱；

15:待测光谱系统；

具体实施方式

为了便于本领域普通技术人员理解和实施本实用新型，下面结合附图及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。

本实用新型具备有两种光路，第一种光路可以完成对待测器件6插损、回 损、波长相关损耗的测量，第二光路可以完成对待测器件6插损、回损、波长相关损耗、温度相关损耗、响应时间的测量。