[实用新型]一种插损、回损、波长相关损耗测试装置有效
申请号: | 201520342845.9 | 申请日: | 2015-05-25 |
公开(公告)号: | CN204615829U | 公开(公告)日: | 2015-09-02 |
发明(设计)人: | 王新;张传彬;魏德亮;周日凯 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 杨文录 |
地址: | 430205 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 回损 波长 相关 损耗 测试 装置 | ||
1.一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:包括宽谱激光器(1)、第一光电探测器(2)、第二光电探测器(5),第三光电探测器(11)、2×2分光器(3)、1×2分光器(8)、第一隔离器(4)、第二隔离器(7)、1×N光开关(9)、光谱仪(10)、控制电路(12),宽谱激光器(1)与2×2分光器(3)输入端相连接,2×2分光器(3)的一路输出端接入第一隔离器(4),第一隔离器(4)接入第二光电探测器(5);2×2分光器(3)的反射端接入第一光电探测器(2);第二隔离器(7)的输出端接1×2分光器(8)的公共端;1×2分光器(8)的一路分光端接入第三光电探测器(11),另一路分光端接入1×N光开关(9),1×N光开关(9)输出端接光谱仪(10);控制电路(12)控制连接1×N光开关(9)、宽谱激光器(1)、光谱仪(10)、第一光电探测器(2)、第二光电探测器(5)、第三光电探测器(11)。
2.根据权利要求1所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:所述控制电路(12)接入实现人机交互的装置,该装置控制有高低温箱(14),该高低温箱(14)放置待测器件。
3.根据权利要求1所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:所述控制电路(12)接入实现人机交互的装置。
4.根据权利要求2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:所述人机交互装置采用个人电脑(13)。
5.根据权利要求1或2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:所述宽谱激光器(1)采用ASE激光器,其波长范围为1528nm~1603nm,出光功率为5dBm。
6.根据权利要求1或2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:所述第一光电探测器(2)、第二光电探测器(5)、第三光电探测器(11)采用高灵敏度、平面结构的InGaAs光电二极管。
7.根据权利要求1或2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装 置,其特征在于:所述1×N光开关(9)的N-1个输入端中的任意应用端口接入设置有待测光谱系统(15)。
8.根据权利要求7所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置,其特征在于:所述待测光谱系统(15)采用TOF光谱测试系统。
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