[实用新型]一种插损、回损、波长相关损耗测试装置有效
| 申请号： | 201520342845.9 | 申请日： | 2015-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN204615829U | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | 王新;张传彬;魏德亮;周日凯 | 申请（专利权）人： | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 杨文录 |
| 地址： | 430205 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 回损 波长 相关 损耗 测试 装置 | ||
1.一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：包括宽谱激光器(1)、第一光电探测器(2)、第二光电探测器(5)，第三光电探测器(11)、2×2分光器(3)、1×2分光器(8)、第一隔离器(4)、第二隔离器(7)、1×N光开关(9)、光谱仪(10)、控制电路(12)，宽谱激光器(1)与2×2分光器(3)输入端相连接，2×2分光器(3)的一路输出端接入第一隔离器(4)，第一隔离器(4)接入第二光电探测器(5)；2×2分光器(3)的反射端接入第一光电探测器(2)；第二隔离器(7)的输出端接1×2分光器(8)的公共端；1×2分光器(8)的一路分光端接入第三光电探测器(11)，另一路分光端接入1×N光开关(9)，1×N光开关(9)输出端接光谱仪(10)；控制电路(12)控制连接1×N光开关(9)、宽谱激光器(1)、光谱仪(10)、第一光电探测器(2)、第二光电探测器(5)、第三光电探测器(11)。
2.根据权利要求1所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：所述控制电路(12)接入实现人机交互的装置，该装置控制有高低温箱(14)，该高低温箱(14)放置待测器件。
3.根据权利要求1所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：所述控制电路(12)接入实现人机交互的装置。
4.根据权利要求2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：所述人机交互装置采用个人电脑(13)。
5.根据权利要求1或2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：所述宽谱激光器(1)采用ASE激光器，其波长范围为1528nm～1603nm，出光功率为5dBm。
6.根据权利要求1或2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：所述第一光电探测器(2)、第二光电探测器(5)、第三光电探测器(11)采用高灵敏度、平面结构的InGaAs光电二极管。
7.根据权利要求1或2或3所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装 置，其特征在于：所述1×N光开关(9)的N-1个输入端中的任意应用端口接入设置有待测光谱系统(15)。
8.根据权利要求7所述的一种插损、回损、波长相关损耗测试装置，其特征在于：所述待测光谱系统(15)采用TOF光谱测试系统。
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