[实用新型]源级大电容MOS器件有效
申请号: | 201520312182.6 | 申请日: | 2015-05-15 |
公开(公告)号: | CN204558470U | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | 张干;王建全;彭彪;王作义;崔永明 | 申请(专利权)人: | 四川广义微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 罗言刚 |
地址: | 629000 四川省遂宁市经济技术开发区内(*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 源级大 电容 mos 器件 | ||
技术领域
本实用新型属于半导体器件领域,涉及一种源极大电容MOS器件。
背景技术
开关电容滤波器、开关电容放大器、开关电容积分器等广泛应用于通信系统、采样电路等应用电路中,由于MOS器件在速度、集成度、相对精度控制和微功耗等方面的独特优势,为开关电容电路的迅猛发展提供了很好的条件。开关电容电路是由MOS开关MOS电容和MOS运算放大器构成的一种大规模集成电路。在使用NMOS或CMOS工艺制造时,制造技术关系到分布电容、开关的通导电阻、放大器的带宽、电容器公差以及电压节点的泄漏电流等。
图1示出开关电容电路的一种典型应用,MOS管M作为开关器件连接开关电容C,开关电容C作为采样保持原件连接其他器件的输入端,可以作为后续放大电路、积分电路或滤波电路的输入信号。现有集成电路工艺在设计和制造上述MOS管和开关电容C时,均为利用工艺规则分别设计和制造,器件版图面积较大,在大量使用开关电容电路的集成电路芯片时,元件分离设计和制造造成不可忽视的版图面积膨大,造成芯片整体成本的上升。
实用新型内容
为克服现有开关电容器件设计制造过程中面积较大,成本较高的技术缺陷,本实用新型公开了一种源极大电容MOS器件。
本实用新型所述源极大电容MOS器件,包括A型外延层,还包括位于A型外延层上的B型MOS器件,所述B型MOS器件源极外侧紧邻有A型重掺杂区,所述A型重掺杂区的掺杂浓度大于A型外延层,所述A型重掺杂区的底部具有向B型MOS器件的内侧有源区底部延伸的延伸部;所述A型、B型为载流子是空穴或电子的导电类型。
优选的,所述A型重掺杂区的电位与B型MOS器件衬底电位相同。
优选的,所述A型重掺杂区包围B型MOS器件有源区底面和各个侧面,但不包括内侧有源区面向B型MOS器件沟道方向的侧面。
优选的,所述A型为P型,B型为N型。
优选的,所述B型MOS器件有源区靠近源级的沟道边缘具有第一A型浅掺杂区,所述第一A型浅掺杂区的的掺杂浓度小于B型MOS器件沟道的掺杂浓度。
采用本实用新型所述的源极大电容MOS器件,将常用的开关电容电路各个器件统一设计和制造,显著减小了开关电容电路的面积,减少了芯片制造过程的器件连线,简化设计的同时降低了开关电容电路芯片的制造成本。
附图说明
图1为本实用新型所述开关电容电路的一种典型实现方式示意图;
图2示出本实用新型所述源极大电容MOS器件的一种具体实施方式结构示意图;
图2中附图标记名称为:1-NMOS管源级 2-P型重掺杂区 3-P型外延层 4- NMOS管沟道 5-P型浅掺杂区 6-NMOS管栅极。
具体实施方式
下面结合附图,对本实用新型的具体实施方式作进一步的详细说明。
本实用新型所述源极大电容MOS器件,包括A型外延层,还包括位于A型外延层上的B型MOS器件,所述B型MOS器件源极外侧紧邻有A型重掺杂区,所述A型重掺杂区的掺杂浓度大于A型外延层,所述A型重掺杂区的底部具有向B型MOS器件的内侧有源区底部延伸的延伸部;所述A型、B型为载流子是空穴或电子的导电类型。
所述A型、B型为载流子是空穴或电子的导电类型,B型器件为MOS器件,例如A型为P型时,B型为N型,B型MOS器件为NMOS管。
如图2所示的本实用新型一种具体实施方式中,A型为P型,B型为N型为例,虚线框内为NMOS管M,包括P型外延层, NMOS管以P型外延层3为基础构建。
P型重掺杂区2位于NMOS管源级1相对沟道的另一侧,P型重掺杂区2与NMOS管源级1形成结电容作为开关电容C,在图1所示电路中,开关电容C一端接地,另一端连接M的源极,对应在图2中利用NMOS管源级和P型重掺杂区构成的结电容,P型重掺杂区电位接地。图2所示的半导体硅片剖面结构形成了如图1电路图虚线框内所示的M、C器件及其连接关系。
第一NMOS管的内侧有源区1可以通过淀积底层金属导线直接连接其他器件,也可以以本领域公知的走线方式以其他层次的金属导线连接。
本实用新型中,利用NMOS管源级作为同时作为开关电容C的一级,相对于传统的NMOS管和电容采用分离的集成元件的设计,减小了电路面积。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川广义微电子股份有限公司,未经四川广义微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520312182.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:铜铝复合光伏焊带
- 下一篇:采用深沟槽隔离的图像传感器
- 同类专利
- 专利分类