[实用新型]半导体器件筛选分类装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种半导体器件筛选分类装置，特别是涉及一种能够将不同类型的半导体器件的不良品准确分类到两个料盒中的去的不良品分类装置。

背景技术

不良品是指生产制造中不符合相关品质要求的原料、半成品、成品。其中品质要求可以是验货的检验品质要求、制造过程品质的要求、客户的品质要求、国家法律法规规定等。目前在大部分的加工生产领域都无法彻底杜绝不良品的产生。现在在生产加工过程中需要将不良品收集起来以便于对不良品进行分析从而通过改进工艺来进一步减少不良品的产生，同时对某一类型的不良品进行收集后还可以通过后续的再加工使其成为良品。目前在半导体器件的加工过程中，通常是将半导体器件通过吸取拾起的方式在不同的工位上进行加工和检测，在这种加工方式下，如何根据要求对检测后的半导体器件中的不良品根据要求进行准确分类是一个亟待解决的技术问题。

发明内容

本实用新型所要解决技术问题是，提供一种能够将不同类型的半导体器件的不良品准确分类到两个料盒中的去的不良品分类装置。

为解决以上技术问题，本实用新型的技术方案是：一种半导体器件筛选分类装置，其关键是：包括第一料盒、第二料盒以及与所述第一料盒连通的第一输料管、与所述第二料盒连通的第二输料管，在所述第一输料管的入口处的一侧设置有吹气口，所述第二输料管的入口设置在所述第一输料管的入口处的另一侧且正对所述吹气口。

作为本实用新型的改进一，在所述第一输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第一感应器。

作为本实用新型进一步的改进，所述第一感应器为光纤传感器。

作为本实用新型更进一步的改进，在所述第二输料管上设置有用以感应是否有物料经过的第二感应器。

作为本实用新型再进一步的改进，所述第二感应器也为光纤传感器。

作为本实用新型的改进二，还包括容纳所述第一料盒的第一料仓，所述第一料仓的顶部与所述第一输料管连通。

作为本实用新型进一步的改进，所述第一料仓包括设置在侧面的第一料盒出入口。

作为本实用新型更进一步的改进，还包括容纳所述第二料盒的第二料仓，所述第二料仓的顶部与所述第二输料管连通。

作为本实用新型再进一步的改进，所述第二料仓包括设置在侧面的第二料盒出入口。

优选的，还包括控制器，所述第一感应器以及所述第二感应器均与所述控制器电性连接。

通过实施本实用新型可取得以下有益效果：