[实用新型]基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种材料耐电晕放电老化性能检测装置。

背景技术

在材料科学探索中，对纳米电介质材料从宏观向下深入至介观(nm尺度的原子构成的结构单元)、微观(原子级)层次的深入研究，使得电介质理论得到长足发展，进入低维系统，可以有效描述奇异理化特性和尺度效应等纳米科学中的特殊现象，以建立各个层次(微观、介观和宏观)间的相互关联的理论体系为目的，其核心在于研究介于宏观和微观之间的介观领域的电介质材料行为特性，该层面尚未被深入系统研究过。

目前对纳米电介质材料的分析手段中，如介电谱、刺激电流、光谱分析、动态力学分析仪等，分析结果主要体现的是被测样品的平均性能，缺少空间分辨率；具有空间分辨率的显微手段，如电子显微镜，X射线散射等，仅能表征复合材料的微观界面形貌,无法直观反映微观界面作用对宏观介电性能的影响，缺少对测试样品进一步处理并原位表征变化的手段。而SPM因为具有一个可以功能化的微探针，使得其在区分材料不同微区性能上具有难以替代的作用。

电晕老化实验研究纳米电介质材料常用的一种常用方式，一般的针板电晕放电测试装置如图1如示，用以检测材料的耐电晕特性，同时需要分析材料在电晕过程中的变化。一般的装置仅仅起到电晕老化的作用，分析材料变化时需要将试样取下，不能原位的连续表征材料的变化。

且一般装置的的缺点还有：针曲率半径在100m左右，针板距离1-2mm，作用面积大，针电极作用单一，不能原位检测，需要人工计时等。

发明内容

本发明是为了解决现有的针板电晕放电测试装置在检测材料电晕放电老化性能不能原位的连续检测材料的变化的问题，从而提供一种基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置。

基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置，它包括导电纸1、保护电阻2和高压电源3；所述导电纸1的一端通过保护电阻2接入高压电源3；

它还包括扫描探针显微镜、继电器、计时器和电流表12；

扫描探针显微镜包括导电悬臂5、压电陶瓷扫描器9、激光器7、探测器8；压电陶瓷扫描器9接入电源；

导电纸1的另一端与导电悬臂5的一端连接；导电悬臂5悬挂在压电陶瓷扫描器9的上方，且与水平方向的夹角为锐角；扫描探针显微镜的探针6固定在导电悬臂5的另一端；

压电陶瓷扫描器9的上端放置有样品4，所述扫描探针显微镜的探针6位于样品4的上方，且与样品6之间的距离为d，d通过压电陶瓷扫描器9控制在亚微米至微米范围内；

激光器7发射的激光入射至扫描探针显微镜的探针6背面，所述激光经扫描探针显微镜的探针6反射至探测器8；

继电器、计时器和电流表12均串联在保护电阻2和高压电源3之间。

它还包括计算机10和显示器11；所述计算机10的显示信号输出端与显示器11的显示信号输入端连接；所述探测器8的电信号输出端与计算机10的探测器信号输入端连接；计算机10的反馈控制信号输出端与压电陶瓷扫描器9的控制信号输入端连接。

扫描探针显微镜为多模式电场力显微镜、开尔文力显微镜、压电力显微镜、扫描电容显微镜或磁场力显微镜。

本发明能够在材料电晕老化过程中暂停老化，原位检测材料的各种变化，之后继续电晕老化作用，电晕老化击穿材料后，亦可检测材料的变化情况。解决了现有的针板电晕放电测试装置在检测材料放电老化性能不能原位的连续检测材料的变化的问题。

附图说明

图1是背景技术中所述的一般的针板电晕放电测试装置的结构示意图；

图2是本发明的结构示意图；

具体实施方式

具体实施方式一、结合图2说明本具体实施方式，基于扫描探针显微镜的材料耐电晕放电老化性能检测装置，它包括导电纸1、保护电阻2和高压电源3；所述导电纸1的一端通过保护电阻2接入高压电源3；

它还包括扫描探针显微镜、继电器、计时器和电流表12；

扫描探针显微镜包括导电悬臂5、压电陶瓷扫描器9、激光器7、探测器8；压电陶瓷扫描器9接入电源；

导电纸1的另一端与导电悬臂5的一端连接；导电悬臂5悬挂在压电陶瓷扫描器9的上方，且与水平方向的夹角为锐角；扫描探针显微镜的探针6固定在导电悬臂5的另一端；