[实用新型]一种用于检测非接触卡芯片不良的装置

说明书

技术领域

本申请涉及一种消费型卡片生产设备，特别涉及一种用于检测非接触卡芯片不良的装置。

背景技术

为确保IC卡卡片非接功能正常，卡片生产厂商需要抽调大量的人员及时间在非接触功能的检验上面，因此在IC卡非接手工电测方面耗费大量的检测工时，此前每万张卡片手工非接电测耗时约为5-6工时，按一家中小型发卡中心每年发卡1000万张估算，仅电测工序就耗费工时超5000小时。这种方式效率非常低下，浪费太多的人力物力，这种问题亟待解决。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，可以有效提高不良卡的检测效率。

本实用新型实施例是这样实现的，一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，包括：刷卡器，用于接收非接触卡反馈的高频信号；

延时继电器控制器，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器；

制卡设备控制器，用于接收所述高频信号后，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作；

所述制卡设备控制器包括：

高频信号接收板，与所述延时继电器控制器相连，用于接收所述高频信号，并控制光电感应开关的通断；

光电感应开关，与所述高频信号接收板相连，根据高频信号板的控制产生反馈信号给制卡设备。

进一步地，所述装置还包括计数器，与所述延时继电器控制器相连，当刷卡器接收到所述非接触卡反馈的高频信号后，延时继电器将所述高频信号发送到计数器。

进一步地，所述延时继电器包括一延时时间调整控制，用于控制延时时间。

进一步地，所述装置还包括一报警装置，用于当待检测到非接触卡芯片不良时发出报警信号。

采用上述技术方案，具有如下有益效果：减少、取缔这一工耗问题，从生产根源出发，利用光电感应开关以及非接刷卡技术相结合，自动控制卡片生产设备判别并剔除非接触不良类型卡片。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1示出了本申请提供的用于检测非接触卡芯片不良的装置的结构框图；

图2示出了本申请提供的用于检测非接触卡芯片不良的装置的另外一实施例的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关实用新型，而非对该实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关实用新型相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

如图1所示，一种用于检测非接触卡芯片不良的装置10，包括：刷卡器101，用于接收非接触卡反馈的高频信号；

延时继电器控制器102，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器；

制卡设备控制器103，用于接收所述高频信号后，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作。

刷卡器负责检测IC卡芯片是否良品，如是良品会反馈高频信号，不良品则无感应，无高频信号返回。上述刷卡器为非接刷卡器，将非接刷卡器安装于生产设备最易损伤IC天线的模块位置。

打开检测设备，制卡设备控制器自动开启拦截功能。制卡设备控制器进一步包括高频信号接收板和光电感应开关，其中高频信号接收板，与所述延时继电器控制器相连，用于接收所述高频信号，并控制光电感应开关的通断；其中光电感应开关，与所述高频信号接收板相连，根据高频信号板的控制产生反馈信号给制卡设备。

当有效的非接触IC卡片经过刷卡器时，刷卡器会给检测设备一个“PASS”信号让光电感应开关自动开启过卡通道，以达到正常生产目通过。反之，当无效的非接触卡片经过刷卡器时，刷卡器则不会给检测设备任何信号，然后就被随时待命的光电开关拦截下来，被成功剔除。

本实用新型还提供另外一实施例，所述装置还包括计数器，与所述延时继电器控制器相连，当刷卡器接收到所述非接触卡反馈的高频信号后，延时继电器将所述高频信号发送到计数器。当成功识别有效卡片时，检测设备能实时准确地累加计数，让卡片生产更加直观更加明了。也可以方便产品生产完的核对操作，防止不良品流出。

本实用新型还提供另外一实施例，所述装置还包括一报警装置，用于当待检测非解除卡芯片不良时发出报警信号。报警装置可以是蜂鸣器等可以发出提醒功能的装置。