[实用新型]一种用于检测非接触卡芯片不良的装置有效
| 申请号： | 201520166240.9 | 申请日： | 2015-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN204903663U | 公开（公告）日： | 2015-12-23 |
| 发明（设计）人： | 胡安辉;周斌;张琛航;龚家杰 | 申请（专利权）人： | 珠海市金邦达保密卡有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广东秉德律师事务所 44291 | 代理人： | 杨焕军;江超 |
| 地址： | 519070 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 接触 芯片 不良 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，包括：
刷卡器，用于接收非接触卡反馈的高频信号；
延时继电器控制器，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器；
制卡设备控制器，用于接收所述高频信号，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作；
所述制卡设备控制器包括：
高频信号接收板，与所述延时继电器控制器相连，用于接收所述高频信号，并控制光电感应开关的通断；
光电感应开关，与所述高频信号接收板相连，根据高频信号板的控制产生反馈信号给制卡设备。
2.根据权利要求1所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述装置还包括计数器，与所述延时继电器控制器相连，当刷卡器接收到所述非接触卡反馈的高频信号后，延时继电器将所述高频信号发送到计数器。
3.根据权利要求1所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述延时继电器包括一延时时间调整控制，用于控制延时时间。
4.根据权利要求1所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述装置还包括一报警装置，用于当待检测到非接触卡芯片不良时发出报警信号。
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