[发明专利]具有低功率扫描系统的集成电路

说明书

本发明涉及具有低功率扫描系统的集成电路，可在扫描模式中操作的集成电路包括由级联触发器单元形成的扫描链。每个触发器单元都包括接收第一数据信号并产生第一锁存信号的主锁存器，接收第一锁存信号并产生第二锁存信号的从锁存器和具有分别连接至主和从锁存器用于接收第一输入信号第二锁存信号的第一和第二输入的多路复用器，并且其取决于触发信号产生扫描数据输出信号。第一输入信号是第一数据信号和第一锁存信号中的一种。由触发信号对提供至从锁存器的时钟信号进行门控。

技术领域

本发明涉及到测试集成电路(IC)，并且更特别地，涉及测试具有低功率扫描系统的集成电路。

背景技术

在集成电路(IC)中广泛使用扫描链以获得IC的内部节点的接入，从而通过经由IC的触发器通过测试数据来简化IC的测试。图1是包括彼此平行布置的多个扫描链102的常规扫描系统100的示意性框图。每个扫描链102都由多个级联的常规触发器单元104形成。

图2是图1的触发器单元104中的一个的示意性框图。触发器单元104包括主锁存器106、具有连接至主锁存器106的输出端子的输入端子的从锁存器108，和具有连接至主锁存器106的输入端子的输出端子的多路复用器110。触发器单元104被配置为以功能模式和扫描模式这两种模式中的一种操作。多路复用器接收数据输入信号(D)和扫描数据输入信号(SDI)，并取决于扫描启用(enable)信号产生第一数据信号，该扫描启用信号在扫描模式中是有效的。将时钟信号提供至主锁存器和从锁存器。

对于全扫描设计，在扫描测试期间，在IC中的全部触发器单元104和连接至触发器单元104的全部组合逻辑单元都可同时触发，引起非常高的功耗。因为正常功能模式中仅一些组合逻辑和触发器被触发，所以这种高功耗比正常功能模式中的功耗大很多，并且这种高功耗会超出IC的功率额定值。进一步地，随着IC芯片密度和速度增加，扫描移位功率问题在加剧。因此，需要提供一种低功率扫描系统。

附图说明

当结合附图阅读时，将更好理解下文本发明的优选实施例的具体描述。借助于示例说明了本发明，并且其不限于附图，附图中相似参考标记表示相似元件。

图1是由多个常规触发器单元形成的常规扫描测试系统的示意性框图；

图2是图1的常规触发器单元的示意性框图；

图3是根据本发明的实施例的触发器单元的示意性框图；

图4是根据本发明的另一实施例的触发器单元的示意性框图；

图5是根据本发明的实施例的具有由多个触发器单元形成的低功率扫描测试系统的IC的示意性框图；

图6是根据本发明的实施例的由图3的多个触发器单元形成的图5的IC的扫描链的示意性框图；

图7是示出根据本发明的实施例在扫描模式期间实行的周期的时序图；和

图8是根据本发明的一个实施例的低功率扫描方法的流程图。

具体实施方式

附图的具体描述意在作为本发明的当前优选实施例的描述，并不是意在表示实践本发明的仅有形式。将理解，可通过囊括在本发明的精神和范围内的不同实施例实现相同或等同功能。