[发明专利]K线形态识别方法及装置

说明书

本发明公开了一种K线形态识别方法及装置，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取待识别的K线数据；读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，该形态配置文件指示预定形态；根据配置参数以及关键点的逻辑坐标对K线数据进行遍历识别，确定该K线数据是否与预定形态匹配。本发明解决了现有技术中人为标示K线形态的方法带有较多的主观性，且对于数据过多、图形密集的K线，分析师难以通过肉眼识别，对K线形态识别的误差率比较高的问题；可以让终端自动、快速的进行K线形态识别，摒弃人工识别的主观性。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种K线形态识别方法及装置。

背景技术

K线形态是股票在下跌、盘整、上升过程中的价格轨迹的特征，通过观察多根K线组成的复合图形，可以判断股价的后期走向。

常见的K线形态有W底、M顶、上升通道、下降通道等。现有的K线形态主要依靠人为识别，分析师可以通过局部放大K线图，凭借经验，将K线形态的各个特征标示出来。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：现有的人为标示K线形态的方法带有较多的主观性，且对于数据过多、图形密集的K线，分析师难以通过肉眼识别，对K线形态识别的误差率比较高。

发明内容

为了解决现有技术中人为标示K线形态的方法带有较多的主观性，且对于数据过多、图形密集的K线，分析师难以通过肉眼识别，对K线形态识别的误差率比较高的问题，本发明实施例提供了一种K线形态识别方法及装置。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种K线形态识别方法，所述方法包括：

获取待识别的K线数据；

读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，所述形态配置文件指示预定形态；

根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配。

可选的，所述根据所述配置参数以及所述关键点的逻辑坐标对所述K线数据进行遍历识别，确定所述K线数据是否与所述预定形态匹配，包括：

确定第一视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；

在所述第一视窗内的K线组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的左边界值和右边界值均加1，得到第二视窗，进一步确定第二视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；

在所述第一视窗内的K线未组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的右边界值减1，得到第三视窗，在所述第三视窗的大小大于视窗最小值时，确定所述第三视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态，在所述第三视窗的大小小于所述视窗最小值时，确定所述第一视窗内的K线是否与所述预定形态匹配。

可选的，所述确定第一视窗内的K线是否与所述预定形态匹配，包括：

将每条K线数据中的四个数据进行标准化，标准化后的数值均位于0-1之间，所述K线数据中的四个数据为所述K线对应的最高价、最低价、开盘价和收盘价；

计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置；

根据所述逻辑位置计算每条K线所对应的上边界线值和下边界线值；

根据所述K线中四个数据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下边界线值，计算所述第一视窗内的判定参数，所述预定判定参数包括点突破率、关键点错误率、通道突破率、通道缺损率以及适配率中的至少一种；

根据所述判定参数，确定所述第一视窗内的K线数据与所述预定形态匹配。

可选的，所述计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置，包括：