[发明专利]K线形态识别方法及装置

权利要求书

1.一种K线形态识别方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待识别的K线数据；

读取形态配置文件中的配置参数以及各个关键点的逻辑坐标，所述形态配置文件指示预定形态；

确定第一视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；

在所述第一视窗内的K线组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的左边界值和右边界值均加1，得到第二视窗，进一步确定第二视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态；

在所述第一视窗内的K线未组成与所述预定形态匹配的形态，则将所述第一视窗的右边界值减1，得到第三视窗，在所述第三视窗的大小大于视窗最小值时，确定所述第三视窗内的K线是否组成与所述预定形态匹配的形态，在所述第三视窗的大小小于所述视窗最小值时，将每条K线数据中的四个数据进行标准化，标准化后的数值均位于0-1之间，所述K线数据中的四个数据为所述K线对应的最高价、最低价、开盘价和收盘价；计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置；根据所述逻辑位置计算每条K线所对应的上边界线值和下边界线值；根据所述K线中四个数据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下边界线值，计算所述第一视窗内的判定参数，所述判定参数包括点突破率、关键点错误率、通道突破率、通道缺损率以及适配率中的至少一种；根据所述判定参数，确定所述第一视窗内的K线数据是否与所述预定形态匹配。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述第一视窗内各条K线的逻辑位置，包括：

获取所述第一视窗所对应通道的起始位置以及所述第一视窗的大小；

对于每个K线，将所述K线的索引位置减去所述起始位置，将得到的差值除以所述第一视窗的大小，得到所述K线在所述第一视窗内的逻辑位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述逻辑位置计算每条K线所对应的上边界线值和下边界线值，包括：

对于每条K线，确定出位于所述K线左侧最近的第一上边界关键点和右侧最近的第二上边界关键点，获取所述第一上边界关键点和所述第二上边界关键点之间的第一连线，计算所述K线的延长线与所述第一连线的第一交叉点，将所述第一交叉点的纵坐标确定为所述K线的上边界线值；

确定出位于所述K线左侧最近的第一下边界关键点和右侧最近的第二下边界关键点，获取所述第一下边界关键点和所述第二下边界关键点之间的第二连线，计算所述K线的延长线与所述第二连线的第二交叉点，将所述第二交叉点的纵坐标确定为所述K线的下边界线值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述K线中四个数据标准化后的数值以及对应的所述上边界线值和下边界线值，计算所述第一视窗内的判定参数，包括：

对于所述第一视窗内的每条K线，当所述K线的最高点超过所述第一视窗的通道的上边界线时，计算所述K线的向上突破率，当所述K线的最低点超过所述通道的下边界线时，计算所述K线的向下突破率；

或者，

对于所述第一视窗内的每个关键点，分别计算所述关键点、所述关键点前的第一点和所述关键点后的第二点的上差值总和以及下差值总和，将得到的各个上差值总和加上得到的各个下差值总和，将得到的和值除以关键点数量的2倍，得到关键点错误率；

或者，

统计所述第一视窗向上突破的K线数量和向下突破的K线数量，将所述向上突破的K线数量加上所述向下突破的K线数量，将得到的和值除以所述第一视窗大小的2倍，得到通道突破率；

或者，

统计所述第一视窗内所有K线的上缺损值和下缺损值的总和，将所述总和除以所述第一视窗的大小，得到通道缺损率；

或者，

计算所述关键点错误率、所述通道突破率和所述通道缺损率的和值，将1减去所述和值，得到适配率。