[发明专利]一种基于石墨烯的微测辐射热计在审
申请号: | 201510975460.0 | 申请日: | 2015-12-23 |
公开(公告)号: | CN105486414A | 公开(公告)日: | 2016-04-13 |
发明(设计)人: | 杨俊;汤林龙;冯双龙;魏兴战;史浩飞;杜春雷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
主分类号: | G01J5/20 | 分类号: | G01J5/20;H01L31/09 |
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地址: | 400714 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 石墨 辐射热 | ||
技术领域
本发明属于光电领域,特别涉及一种基于石墨烯的微测辐射热计。
背景技术
红外成像是现代国防军事的重要技术,方便官兵在夜晚、烟雾、雾天中的观 察作战。目前广泛应用的红外成像技术包括制冷和非制冷两类,其中制冷型红外 成像由于需要复杂的制冷设备,而导致系统笨重,不易于单兵作战。非制冷红外 成像技术起步较晚,但是发展迅速,其中以氧化钒为敏感单元的微测辐射热计非 制冷红外成像技术已广泛应用于国防军事领域。但是,氧化钒自身的吸光性能较 差,需要借助氮化硅等红外吸收材料以及复杂的光学腔体结构。此外,传统的微 测辐射热计的探测波段单一(8~12um),不能实现宽波段(3~12um)。
石墨烯,目前最先进的二维纳米材料,能够赋予光电器件崭新的特性、崭新 的功能、崭新的概念。它同时具备优异的光学、电学、力学、热学性能。尤其地, 石墨烯具有宽波段吸收能力(从可见光波段到远红外),单层石墨烯能够吸收 2.3%的光。因而,一定厚度和结构尺寸的石墨烯能够实现宽波段非制冷红外探测。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于石墨烯微测辐射热计,解决现有微测辐射热 计工艺复杂、红外吸收波段窄、红外吸收率低等问题,实现非制冷宽波段、低成 本红外探测。
本发明所涉及的一种石墨烯微测辐射热计,包括硅基底、悬空孔、悬空支撑 层、金属电极引线、红外敏感层、石墨烯保护层、悬空支撑层微孔;
所述的硅基底为常规半导体硅片,硅基底上面分布有悬空孔;
所述的悬空支撑层,置于悬空孔上方,其材料包括氮化硅、二氧化硅、聚合 物弹性体或者其中二者的组合,厚度为20nm~5um;其中所述的聚合物弹性体 为聚二甲基硅氧烷、聚氨酯弹性体、硅橡胶、聚氨酯橡胶中的一种;
所述的红外敏感层是采用石墨烯作为宽波段红外吸收敏感层,红外敏感层置 于悬空支撑层上方,石墨烯的厚度为5nm~1000nm,石墨烯的形态包括石墨烯 薄膜、石墨烯纳米墙以及石墨烯微片等;
所述的石墨烯保护层,用以在制备工艺和使用过程中保护石墨烯免被破坏, 具体材料包括氮化硅、二氧化硅、碳化硅等,其厚度为10nm~500nm;
所述的悬空支撑层微孔为矩形盲孔,深度为1~100um,通过常规的微纳加 工手段实现,包括光刻、刻蚀等。
所述的石墨烯薄膜是通过CVD制备,并转移至悬空层上方,通过多次转移 方式获得不同厚度石墨烯薄膜。
所述的石墨烯纳米墙是通过PECVD或者MPCVD方式制备,可以直接在悬 空层上沉积,也可以在其他基底上制备后转移至悬空层上方,石墨烯纳米墙的厚 度可以通过生长工艺控制。
所述的石墨烯微片是通过溶液旋涂的方式沉积在悬空层上方,通过溶液的浓 度、旋涂转速控制石墨烯厚度。
所述的石墨烯微测辐射热计单元器件的尺寸为15×15um2~200×200um2, 石墨烯敏感单元的填充因子为50%~95%。
所述的石墨烯微测辐射热计可以实现n×m阵列焦平面的器件制备,其中 n=1,2,3…的整数,m=1,2,3…的整数。
本发明提高了红外探测灵敏度,结构简单,成本低,且具有优异的非制冷宽 波段红外探测性能。
附图说明
图1为石墨烯微测辐射热计单元器件结构截面图,其中101为硅基底,102 为悬空孔,103为悬空支撑层,104为金属电极引线,105为石墨烯红外敏感层, 106为石墨烯保护层,107为悬空支撑层微孔;
图2为石墨烯微测辐射热计单元器件结构平面图,其中101为硅基底,103 为悬空支撑层,104为金属电极引线,105为石墨烯红外敏感层,106为石墨烯 保护层;
图3为石墨烯微测辐射热计阵列。
具体实施方式
以下结合石墨烯微测辐射热计单元器件结构截面图如图1、单元器件结构平 面图如图2以及石墨烯微测辐射热计阵列图3,对本发明的原理和特征进行描述, 所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
实施例一
本实施例中,在硅片基底101上通过光刻、刻蚀等微纳加工手段制备矩形盲 孔作为悬空孔102阵列,该悬空孔102的深度为1um,孔的特征尺寸为 18um×18um,阵列的填充因子为81%;
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