[发明专利]一种监测方法及设备在审
申请号: | 201510974412.X | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN105529600A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 赵环;王暖让;张振伟;武腾飞;任冬梅;陈星;张旭;杨仁福 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所;中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | H01S3/00 | 分类号: | H01S3/00 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 黄熊 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 监测 方法 设备 | ||
技术领域
本申请涉及激光技术领域,尤其涉及一种监测方法及设备。
背景技术
锁模脉冲激光是一种在激光共振腔中的不同纵模间引入固定的相位关系 后,而产生出的激光,由于其具有输出脉冲能量高、脉冲宽度窄、重复频率高 等特点,使其在激光加工、激光光谱学等特殊领域得到了广泛的应用。随着激 光技术的不断发展,锁模脉冲激光的应用范围还将不断的扩大,使其为人类的 科学以及工业发展提供更多的可能。
在实际应用中,由于锁模激光器受机械形变、外界环境变化以及光学元件 被污染或老化等因素的影响,其内部激光的平均功率和脉冲能量通常会逐渐降 低,进而使得锁模激光器所产生的锁模脉冲激光中会存在Q调制现象,其中, Q调制现象在实际应用中会产生诸多不利的影响,如降低激光频率梳的稳定 性、损坏激光放大器中的光学元件等。
因此,为了降低Q调制现象所带来的不利影响,需要对锁模脉冲激光实施 有效的监测,进而当监测到锁模脉冲激光中存在Q调制现象时,停止对该锁模 脉冲激光的应用。然而,当前还没有有效的方法来自动监测锁模脉冲激光中是 否存在Q调制现象,因此,如何能够有效的自动监测到锁模脉冲激光中是否存 在Q调制现象是一个亟待解决的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种监测方法及设备,用以解决现有技术中无法自动监 测到锁模激光器中是否出现Q调制现象的问题。
本申请实施例提供的一种监测方法,包括:
将锁模激光器发射的锁模脉冲激光转换为锁模脉冲信号;
获取所述锁模脉冲信号中的低频信号;
根据所述低频信号,判断所述锁模激光器是否出现Q调制现象。
本申请实施例提供的一种监测设备,包括:光电探测器、低通滤波器以及 信号监测器;其中:
所述光电探测器,用于将接收到的锁模激光器发送的锁模脉冲激光转化为 锁模脉冲信号;
所述低通滤波器,用于对所述锁模脉冲信号进行滤波,得到锁模脉冲信号 中的低频信号;
所述信号监测器,用于根据所述低频信号,判断所述锁模激光器是否出现 Q调制现象。
本申请实施例提供一种监测方法及设备,该方法通过将锁模激光器发射的 锁模脉冲激光通过光电探测器转化为锁模脉冲信号,再通过低通滤波器将得到 的锁模脉冲信号进行滤波,得到锁模脉冲信号中的低频信号,进而使得信号监 测器可根据得到的低频信号,判断出锁模激光器中是否出现Q调制现象。上述 方法可将锁模脉冲信号中Q调制现象所对应的低频信号有效的分离出来,从而 可通过该低频信号,监测锁模激光器中是否出现Q调制现象,后续可降低Q 调制现象所带来的不利影响。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部 分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不 当限定。在附图中:
图1为本申请实施例提供的一种监测设备的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的监测方法的过程;
图3A、3B分别为本申请实施例提供的正常的锁模脉冲信号和存在Q调制 现象的部分锁模脉冲信号示意图;
图4为本申请实施例提供的设有高通滤波器的监测设备结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请具体实 施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的 实施例仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施 例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施 例,都属于本申请保护的范围。
图1为本申请实施例提供的一种监测设备的结构示意图。
在图1所示的监测设备中包括光电探测器,低通滤波器以及信号监测器, 其中,光电探测器主要用于将接收到的锁模脉冲激光转化为锁模脉冲信号,进 而以该锁模脉冲信号为基础,来完成后续对锁模激光器中是否出现Q调制现象 的判断,低通滤波器则主要用于对得到的锁模脉冲信号进行滤波,得到锁模脉 冲信号中的低频信号,而信号监测器则主要用于可根据得到的低频信号,来判 断锁模激光器中是否出现Q调制现象。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所;中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,未经北京无线电计量测试研究所;中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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