[发明专利]一种监测方法及设备

权利要求书

1.一种监测方法，其特征在于，包括：

将锁模激光器发射的锁模脉冲激光转换为锁模脉冲信号；

获取所述锁模脉冲信号中的低频信号；

根据所述低频信号，判断所述锁模激光器是否出现Q调制现象。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述锁模脉冲信号中的 低频信号，具体包括：

将所述锁模脉冲信号通过低通滤波器进行滤波，得到所述锁模脉冲信号中 低频信号。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述低频信号，判断所 述锁模激光器是否出现Q调制现象之前，所述方法还包括：

将所述低频信号通过高通滤波器进行滤波，去除其中的直流电压信号；

根据所述低频信号，判断所述锁模激光器是否出现Q调制现象，具体包括：

根据所述去除直流电压的低频信号，判断所述锁模激光器是否出现Q调制 现象。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述去除直流电压的低 频信号，判断所述锁模激光器是否出现Q调制现象之前，所述方法还包括：

将所述去除直流电压的低频信号进行放大；

根据放大后的去除直流电压的低频信号，判断所述锁模激光器是否出现Q 调制现象。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述低频信号，判断所 述锁模激光器是否出现Q调制现象，具体包括：

判断所述低频信号的电压幅度是否大于设定阈值；

若是，则判定所述锁模激光器出现Q调制现象；

否则，判定所述锁模激光器未出现Q调制现象。

6.如权利要求1～5任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当确定所述锁模激光器出现Q调制现象时，发出告警信号或向其它设备发 送控制信号。

7.一种监测设备，其特征在于，所述设备包括：光电探测器、低通滤波 器以及信号监测器；其中：

所述光电探测器，用于将接收到的锁模激光器发送的锁模脉冲激光转化为 锁模脉冲信号；

所述低通滤波器，用于对所述锁模脉冲信号进行滤波，得到锁模脉冲信号 中的低频信号；

所述信号监测器，用于根据所述低频信号，判断所述锁模激光器是否出现 Q调制现象。

8.如权利要求7所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：高通滤波 器；

所述高通滤波器用于，在所述信号监测器根据所述低频信号判断所述锁模 激光器是否出现Q调制现象之前，将所述低频信号通过高通滤波器进行滤波， 去除其中的直流电压信号；

所述信号监测器具体用于，根据所述去除直流电压的低频信号，判断所述 锁模激光器是否出现Q调制现象。

9.如权利要求8所述的设备，其特征在于，所述设备还包括：低通放大 器；

所述低通放大器用于，在所述信号监测器根据所述去除直流电压的低频信 号判断所述锁模激光器是否出现Q调制现象之前，将所述去除直流电压的低频 信号进行放大；

所述信号监测器具体用于，根据放大后的低频信号，判断所述锁模激光器 是否出现Q调制现象。

10.如权利要求7所述的设备，其特征在于，所述信号监测器具体用于， 判断所述低频信号的电压幅度是否大于设定阈值，若是，则判定所述锁模激光 器出现Q调制现象，否则，判定所述锁模激光器未出现Q调制现象。