[发明专利]一种存储单元的擦除方法有效
申请号: | 201510933666.7 | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105551524B | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 刘会娟 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/16 | 分类号: | G11C16/16;G11C16/08;G11C16/24;G11C16/34 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬;邓猛烈 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 存储 单元 擦除 方法 | ||
1.一种存储单元的擦除方法,其特征在于,包括:
S1、接收编程操作指令;
S2、对存储单元进行选择,选中的存储单元的字线以及位线接第一编程电压,未被选中的存储单元的字线悬空,位线接电压源;
S3、对选中的存储单元的字线加编程脉冲;
S4、对选中的存储单元的阱CWELL加擦除电压脉冲;
S5、进行编程验证,如果验证成功则结束编程操作,否则执行步骤S2;
其中,对选中的存储单元的字线加编程脉冲包括:
对选中的存储单元的字线加至少两个编程脉冲。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一编程电压为-5V~10V。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,未被选中的存储单元的字线悬空,位线接电压源,包括:通过电容耦合效应,将未被选中的存储单元的字线电压提高至第二编程电压。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二编程电压为3V~15V,电压源电压为1.5V~2.5V。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行编程验证包括:对比读出的数据与写入的数据是否一致,如果一致,则说明验证成功,否则,验证失败。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技股份有限公司,未经北京兆易创新科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510933666.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:反应堆控制棒棒位处理装置
- 下一篇:一种SOI单端口SRAM单元及其制作方法