[发明专利]一种存储单元的擦除方法有效

专利信息
申请号: 201510933666.7 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105551524B 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 刘会娟 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: G11C16/16 分类号: G11C16/16;G11C16/08;G11C16/24;G11C16/34
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬;邓猛烈
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 单元 擦除 方法
【权利要求书】:

1.一种存储单元的擦除方法,其特征在于,包括:

S1、接收编程操作指令;

S2、对存储单元进行选择,选中的存储单元的字线以及位线接第一编程电压,未被选中的存储单元的字线悬空,位线接电压源;

S3、对选中的存储单元的字线加编程脉冲;

S4、对选中的存储单元的阱CWELL加擦除电压脉冲;

S5、进行编程验证,如果验证成功则结束编程操作,否则执行步骤S2;

其中,对选中的存储单元的字线加编程脉冲包括:

对选中的存储单元的字线加至少两个编程脉冲。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一编程电压为-5V~10V。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,未被选中的存储单元的字线悬空,位线接电压源,包括:通过电容耦合效应,将未被选中的存储单元的字线电压提高至第二编程电压。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二编程电压为3V~15V,电压源电压为1.5V~2.5V。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述进行编程验证包括:对比读出的数据与写入的数据是否一致,如果一致,则说明验证成功,否则,验证失败。

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