[发明专利]具有堆叠的单独封装的功率器件的集成功率组件在审
| 申请号: | 201510919458.1 | 申请日: | 2015-12-10 |
| 公开(公告)号: | CN105702639A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
| 发明(设计)人: | 曹应山 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技美国公司 |
| 主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/488;H01L23/495 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 堆叠 单独 封装 功率 器件 集成 组件 | ||
1.一种集成功率组件,包括:
第一引线框架,具有部分刻蚀段;
第一半导体裸片,被配置用于附接到所述第一引线框架的部分刻 蚀段;
第二引线框架,具有耦合到所述第一半导体裸片的上表面的无腿 导电夹;
第三引线框架,在所述第二引线框架之上并且具有部分刻蚀段;
第二半导体裸片,被配置用于附接到所述第三引线框架的所述部 分刻蚀段;
其中所述第二半导体裸片通过所述第三引线框架的所述部分刻 蚀段被耦合到所述第一半导体裸片。
2.根据权利要求1所述的集成功率组件,其中所述第三引线框 架的所述部分刻蚀段位于所述第二引线框架的所述无腿导电夹上。
3.根据权利要求1所述的集成功率组件,其中所述第一半导体 裸片包括低侧晶体管,并且所述第二半导体裸片包括以半桥的方式耦 合到所述低侧晶体管的高侧晶体管。
4.根据权利要求3所述的集成功率组件,其中所述高侧晶体管 和所述低侧晶体管中的至少一个包括硅。
5.根据权利要求1所述的集成功率组件,其中所述第一半导体 裸片包括IV族晶体管,并且所述第二半导体裸片包括与所述IV族晶 体管共源共栅的III-V族晶体管。
6.根据权利要求5所述的集成功率组件,其中所述IV族晶体管 包括硅。
7.根据权利要求5所述的集成功率组件,其中所述III-V族晶体 管包括氮化镓(GaN)。
8.根据权利要求1所述的集成功率组件,其中所述第一半导体 裸片包括第一功率开关,所述第一功率开关具有在所述第一半导体裸 片的下表面上的栅极电极和源极电极以及在所述第一半导体裸片的 所述上表面上的漏极电极。
9.根据权利要求1所述的集成功率组件,其中所述第二半导体 裸片包括第二功率开关,所述第二功率开关具有在所述第二半导体裸 片的下表面上的栅极电极和源极电极以及在所述第二半导体裸片的 上表面上的漏极电极。
10.根据权利要求1所述的集成功率组件,其中所述第二半导体 裸片包括第二功率开关,所述第二功率开关具有在所述第二半导体裸 片的下表面上的源极电极以及在所述第二半导体裸片的上表面上的 栅极电极和漏极电极。
11.一种集成功率组件,包括:
第一半导体封装,具有被配置用于附接到第一引线框架的部分刻 蚀段的第一功率开关和第二引线框架,所述第二引线框架具有耦合到 所述第一功率开关的上表面的无腿导电夹;
第二半导体封装,在所述第一半导体封装之上并且具有被配置用 于附接到第三引线框架的部分刻蚀段的第二功率开关;
其中所述第二功率开关通过所述第三引线框架的所述部分刻蚀 段被耦合到所述第一功率开关。
12.根据权利要求11所述的集成功率组件,其中所述第三引线 框架的所述部分刻蚀段位于所述第二引线框架的所述无腿导电夹上。
13.根据权利要求11所述的集成功率组件,其中所述第一功率 开关包括低侧晶体管,并且所述第二功率开关包括以半桥的方式耦合 到所述低侧晶体管的高侧晶体管。
14.根据权利要求13所述的集成功率组件,其中所述高侧晶体 管和所述低侧晶体管中的至少一个包括硅。
15.根据权利要求11所述的集成功率组件,其中所述第一功率 开关包括IV族晶体管,并且所述第二功率开关包括与所述IV族晶体 管共源共栅的III-V族晶体管。
16.根据权利要求15所述的集成功率组件,其中所述IV族晶体 管包括硅。
17.根据权利要求15所述的集成功率组件,其中所述III-V族晶 体管包括氮化镓(GaN)。
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