[发明专利]一种控制面板综合测试台

说明书

一种控制面板综合测试台，包括：控制器、总开关、熄火开关、高温控制开关、转码电路、接头、直流检测电压表、励磁调节电压表、发热装置、充电电压表、风扇和显示器；所述控制器分别与所述控制器、所述总开关、所述熄火开关、所述高温控制开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表、所述励磁调节电压表、所述发热装置、所述充电电压表、所述风扇和所述显示器连接。本发明的有益效果为具备对电子设备的解码、编码和励磁功能及工作状态的各项数据进行综合测试，能完全测试的电子设备各方面的功能，测试效率高，出厂产品的良品率高。

技术领域

本发明涉及电子设备测试领域，具体涉及一种控制面板综合测试台。

背景技术

现有的针对于电子设备的测试，一般只测试电子设备的工作电压是否正常来判断电子设备是否为合格品，不具备对电子设备的解码、编码和励磁功能进行测试，无法完全测试的电子设备为合格品，导致测试效率低，出厂产品的良品率较低。

发明内容

为解决现有的针对于电子设备的测试，一般只测试电子设备的工作电压是否正常来判断电子设备是否为合格品，不具备对电子设备的解码、编码和励磁功能进行测试，无法完全测试的电子设备为合格品，导致测试效率低，出厂产品的良品率较低的问题，本发明提出一种控制面板综合测试台。

本发明提供的一种控制面板综合测试台，其特征在于，包括：控制器、总开关、熄火开关、高温控制开关、转码电路、接头、直流检测电压表、励磁调节电压表、发热装置、充电电压表、风扇和显示器；所述控制器分别与所述控制器、所述总开关、所述熄火开关、所述高温控制开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表、所述励磁调节电压表、所述发热装置、所述充电电压表、所述风扇和所述显示器连接；其中，所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接，所述转码电路用于对待测电子装置发出的信号进行转码处理，并显示在所述显示器上，当所述显示器上显示为乱码，即判定为不良品；其中，通过所述高温控制开关控制所述发热装置是否发热，以测试待测电子装置在高温环境下的励磁量是否在预设励磁量范围，从而检测是否为不良品；其中，通过所述熄火开关控制是否向待测电子装置充电，以检测待测电子装置在充电状态下的电压是否超过预设电压范围，从而检测是否为不良品；其中，通过开启所述总开关，所述直流检测电压表检测待测电子装置的工作电流，以检测待测电子装置的工作电流是否超过预设电流范围，从而检测是否为不良品。

进一步的，所述风扇用于在所述发热装置关闭发热功能时，为所述控制面板综合测试台快速散热。

进一步的，所述转码电路包括第一至第八电阻、第一至第十电容、串口和转码芯片U1；

所述第一电容的一端与所述转码芯片U1的VREF引脚电连接，另一端接地；

所述第一电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第三电容的一端电连接，所述第三电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO-引脚电连接；

所述第二电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第四电容的一端电连接，所述第四电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO+引脚电连接；

所述第二电容的一端电连接于所述第三电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片U1的PAI引脚电连接，所述第四电阻的一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片U1的R0-引脚电连接；

所述第三电阻为可调电阻，一端电连接于所述第二电容与所述第三电容之间的连接节点上，另一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上；

所述第五电容一端接地，另一端分别与所述转码芯片U1的VDD和PUI引脚电连接，+3.3V电源连接于所述第五电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上；

所述第七电容一端接地，另一端与所述转码芯片U1的VAG引脚电连接；