[发明专利]一种控制面板综合测试台在审
| 申请号: | 201510915061.5 | 申请日: | 2015-12-13 |
| 公开(公告)号: | CN105404279A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
| 发明(设计)人: | 沈洪水 | 申请(专利权)人: | 重庆金东电子有限公司 |
| 主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 重庆中流知识产权代理事务所(普通合伙) 50214 | 代理人: | 陈立荣 |
| 地址: | 400039 重庆市*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 控制 面板 综合测试 | ||
1.一种控制面板综合测试台,其特征在于,包括:控制器、总开关、熄火开关、高温控制开关、转码电路、接头、直流检测电压表、励磁调节电压表、发热装置、充电电压表、风扇和显示器;所述控制器分别与所述总开关、所述熄火开关、所述高温控制开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表、所述励磁调节电压表、所述发热装置、所述充电电压表、所述风扇和所述显示器连接;其中,所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接,所述转码电路用于对待测电子装置发出的信号进行转码处理,并显示在所述显示器上,当所述显示器上显示为乱码,即判定为不良品;其中,通过所述高温控制开关控制所述发热装置是否发热,以测试待测电子装置在高温环境下的励磁量是否在预设励磁量范围,从而检测是否为不良品;其中,通过所述熄火开关控制是否向待测电子装置充电,以检测待测电子装置在充电状态下的电压是否超过预设电压范围,从而检测是否为不良品;其中,通过开启所述总开关,所述直流检测电压表检测待测电子装置的工作电流,以检测待测电子装置的工作电流是否超过预设电流范围,从而检测是否为不良品。
2.根据权利要求1所述的控制面板综合测试台,其特征在于,所述风扇用于在所述发热装置关闭发热功能时,为所述控制面板综合测试台快速散热。
3.根据权利要求1所述的控制面板综合测试台,其特征在于,所述转码电路包括第一至第八电阻、第一至第十电容、串口和转码芯片U1;
所述第一电容的一端与所述转码芯片U1的VREF引脚电连接,另一端接地;
所述第一电阻的一端与所述串口电连接,另一端与所述第三电容的一端电连接,所述第三电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO-引脚电连接;
所述第二电阻的一端与所述串口电连接,另一端与所述第四电容的一端电连接,所述第四电容的另一端与所述转码芯片U1的PAO+引脚电连接;
所述第二电容的一端电连接于所述第三电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上,另一端与所述转码芯片U1的PAI引脚电连接,所述第四电阻的一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上,另一端与所述转码芯片U1的R0-引脚电连接;
所述第三电阻为可调电阻,一端电连接于所述第二电容与所述第三电容之间的连接节点上,另一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上;
所述第五电容一端接地,另一端分别与所述转码芯片U1的VDD和PUI引脚电连接,+3.3V电源连接于所述第五电容与所述转码芯片U1之间的连接节点上;
所述第七电容一端接地,另一端与所述转码芯片U1的VAG引脚电连接;
所述第七电阻的一端与所述转码芯片U1的AI+引脚电连接,另一端与所述第九电容的一端电连接,所述第九电容的另一端与所述显示器电连接;
所述第五电阻的两端电连接于所述转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间;
所述第六电容的两端电连接于所述转码芯片U1的VAG引脚与AI+引脚之间;
所述第八电阻的一端与所述转码芯片U1的AI-引脚连接,另一端与所述第十电容的一端电连接,所述第十电容的另一端与所示显示器电连接;
所述转码芯片U1的VSS引脚和Mu/A-Law引脚都接地;
所述第六电阻为可调电阻,一端与所述转码芯片U1的AO引脚电连接,另一端与所述转码芯片U1的AI-引脚连接;及
所述第八电容的一端与所述转码芯片U1的AO引脚电连接,另一端电连接于所述第八电阻与所述转码芯片U1之间的连接节点上。
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