[发明专利]避免产生镜头暗角的方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及半导体技术领域，具体涉及一种避免产生镜头暗角的方法及系 统。

背景技术

在实际镜头取景的过程中，由于沾上灰尘的原因，会使得最后的成像有块 状部分模糊，使镜头产生暗角，所以一般情况下会采用图像增强技术。

常用的图像增强技术是通过设定阈值的方法来标记灰尘的位置，然后统计 直方图，确定图像需要增强的位置上的像素值在整个图像的像素值的分布比例， 根据图像需要增强的位置上的像素值在整个图像像素值的分布比例，对图像需 要增强的位置上的像素值进行处理。

然而，上述处理方式的主要问题在于对于灰尘位置的标记，采用人为设定 阈值的方法局限性比较大，对于操作者的经验以及背景图片的要求较高。

发明内容

为了克服以上问题，本发明提供了一种避免镜头产生暗角的方法及系统， 能够自动检测和标记出灰尘的位置并且对灰尘的位置进行增强处理。

为了实现上述目的，本发明提供了一种避免产生镜头暗角的方法，对镜头 所拍摄到的图像进行处理，其包括灰尘位置的标记和衰减系数的计算过程、以 及图像增强过程，其中，

所述灰尘位置的标记和衰减系数的计算过程包括：

步骤101：采用所述镜头拍摄得到具有单一色彩的第一张图像，对所述第一 张图像进行YCbCr转换，得到Y层图像、Cb层图像和Cr层图像；

步骤102：以所述Y层图像的中心作为圆心做出一个圆；

步骤103：计算所述一个圆的内部的所有像素的均值；

步骤104：判断出所述一个圆的内部小于所述均值的像素位置，将这些像素 位置标记为所述一个圆内部的灰尘位置；

步骤105：对所述一个圆的内部的所有灰尘位置的集合作闭运算；

步骤106：计算所述一个圆的内部的非灰尘位置的像素的均值与所述灰尘位 置的像素的比值，该比值即为所述一个圆的内部的所述灰尘位置的衰减系数；

步骤107：以所述Y层图像的中心作为圆心向所述一个圆的外部扩展作出 一个圆环；

步骤108：计算所述圆环的内部的所有像素的均值；

步骤109：判断出所述圆环的内部小于所述步骤108中所述均值的像素位置， 将这些像素位置标记为所述圆环内部的灰尘位置；

步骤110：对所述圆环的内部的所有灰尘位置的集合作闭运算；

步骤111：计算所述圆环的内部的非灰尘位置的像素的均值与所述灰尘位置 的像素的比值，该比值即为所述圆环的内部的所述灰尘位置的衰减系数；

步骤112：依次以所述Y层图像的中心作为圆心向所述圆环外部扩展做出 多个圆环；每一次向外扩展一个圆环后，重复所述步骤108至所述步骤111，完 成每个圆环内部的灰尘位置的标记以及衰减系数的计算；其中，所述第一张图 像中的所有的灰尘位置即为所述镜头的灰尘位置，每个所述灰尘位置都有对应 的衰减系数；

所述图像增强过程包括：

步骤113：采用所述镜头拍摄得到其它的图像，针对每一张图像，进行YCbCr 转换，得到每一张图像的Y层图像、Cb层图像和Cr层图像；

步骤114：将每一张图像的Y层图像中与所述灰尘位置相对应位置的像素 乘以所述灰尘位置的所述衰减系数，从而得到新的Y层图像。

优选地，所述步骤114之后，还包括步骤115：将所述新的Y层图像转换为 RGB图像。

优选地，所述第一张图像呈矩形；所述步骤112中，所述多个圆环的最外 层圆圈的半径大于所述第一张图像的对角线的一半，且与所述最外层圆圈相邻 的圆圈的半径小于所述第一张图像的对角线的一半。

优选地，所述闭运算包括：先膨胀再腐蚀处理，并且补充细节缺陷。

为了达到上述目的，本发明还提供了一种避免产生镜头暗角的方法，该方 法对镜头所拍摄到的图像进行处理，其包括灰尘位置的标记和衰减系数的计算 过程、以及图像增强过程，其中，

所述灰尘位置的标记和衰减系数的计算过程包括：

步骤201：采用所述镜头拍摄得到具有单一色彩的第一张图像，对所述第一 张图像进行YCbCr转换，得到Y层图像、Cb层图像和Cr层图像；

步骤202：以所述Y层图像的中心作为圆心做出多个同心圆；

步骤203：计算所述多个同心圆的最内侧的圆内部的所有像素的均值；