[发明专利]避免产生镜头暗角的方法及系统在审
| 申请号: | 201510900051.4 | 申请日: | 2015-12-08 |
| 公开(公告)号: | CN105516694A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
| 发明(设计)人: | 李赟晟 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号: | H04N9/04 | 分类号: | H04N9/04;H04N5/367 |
| 代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;尹英 |
| 地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 避免 产生 镜头 方法 系统 | ||
1.一种避免产生镜头暗角的方法,该方法对镜头所拍摄到的图像进行处理, 其特征在于,包括灰尘位置的标记和衰减系数的计算过程、以及图像增强过程, 其中,
所述灰尘位置的标记和衰减系数的计算过程包括:
步骤101:采用所述镜头拍摄得到具有单一色彩的第一张图像,对所述第一 张图像进行YCbCr转换,得到Y层图像、Cb层图像和Cr层图像;
步骤102:以所述Y层图像的中心作为圆心做出一个圆;
步骤103:计算所述一个圆的内部的所有像素的均值;
步骤104:判断出所述一个圆的内部小于所述均值的像素位置,将这些像素 位置标记为所述一个圆内部的灰尘位置;
步骤105:对所述一个圆的内部的所有灰尘位置的集合作闭运算;
步骤106:计算所述一个圆的内部的非灰尘位置的像素的均值与所述灰尘位 置的像素的比值,该比值即为所述一个圆的内部的所述灰尘位置的衰减系数;
步骤107:以所述Y层图像的中心作为圆心向所述一个圆的外部扩展作出 一个圆环;
步骤108:计算所述圆环的内部的所有像素的均值;
步骤109:判断出所述圆环的内部小于所述步骤108中所述均值的像素位置, 将这些像素位置标记为所述圆环内部的灰尘位置;
步骤110:对所述圆环的内部的所有灰尘位置的集合作闭运算;
步骤111:计算所述圆环的内部的非灰尘位置的像素的均值与所述灰尘位置 的像素的比值,该比值即为所述圆环的内部的所述灰尘位置的衰减系数;
步骤112:依次以所述Y层图像的中心作为圆心向所述圆环外部扩展做出 多个圆环;每一次向外扩展一个圆环后,重复所述步骤108至所述步骤111,完 成每个圆环内部的灰尘位置的标记以及衰减系数的计算;其中,所述第一张图 像中的所有的灰尘位置即为所述镜头的灰尘位置,每个所述灰尘位置都有对应 的衰减系数;
所述图像增强过程包括:
步骤113:采用所述镜头拍摄得到其它的图像,针对每一张图像,进行YCbCr 转换,得到每一张图像的Y层图像、Cb层图像和Cr层图像;
步骤114:将每一张图像的Y层图像中与所述灰尘位置相对应位置的像素 乘以所述灰尘位置的所述衰减系数,从而得到新的Y层图像。
2.根据权利要求1所述的避免产生镜头暗角的方法,其特征在于,所述步 骤114之后,还包括步骤115:将所述新的Y层图像转换为RGB图像。
3.根据权利要求1所述的避免产生镜头暗角的方法,其特征在于,所述第 一张图像呈矩形;所述步骤112中,所述多个圆环的最外层圆圈的半径大于所 述第一张图像的对角线的一半,且与所述最外层圆圈相邻的圆圈的半径小于所 述第一张图像的对角线的一半。
4.根据权利要求1所述的避免产生镜头暗角的方法,其特征在于,所述闭 运算包括:先膨胀再腐蚀处理,并且补充细节缺陷。
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