[发明专利]用于检测艰难梭菌的四环素耐药基因（tet M）的LAMP试剂盒及其专用引物

说明书

本发明公开了用于检测艰难梭菌的四环素耐药基因(tet M)的LAMP试剂盒及其专用引物。本发明的检测原理是采用LAMP技术对艰难梭菌的四环素耐药基因(tet M)的特异性保守靶序列进行检测，能在等温条件下快速、方便、高效、高特异、高灵敏地检测到艰难梭菌的四环素耐药基因(tet M)，不需要复杂仪器，为艰难梭菌的四环素耐药基因(tet M)的检测提供了新的技术平台，可用于基层医疗卫生单位筛查和检测艰难梭菌对四环素类药物的耐药情况，指导临床诊疗和预后。

技术领域

本发明属于生物技术领域中基因的分子生物学检测，特别是涉及一种用于检测艰难梭菌的四环素耐药基因(tet M)的LAMP试剂盒及其专用引物与检测方法。

背景技术

艰难梭菌(Clostridium difficile，Cd)是一种革兰氏阳性厌氧芽孢杆菌，部分产毒菌株通过分泌毒素A、毒素B以及二元毒素引起抗生素相关性腹泻、结肠炎甚至致死性伪膜性肠炎，统称为艰难梭菌感染(Clostridium difficile infection，CDI)。在医院获得感染性腹泻所明确的病原体中，以艰难梭菌最为常见；在抗生素相关性腹泻病因中，艰难梭菌亦占15％-25％；而伪膜性肠炎则几乎100％由艰难梭菌所致。目前，CDI的一线治疗药物是甲硝唑和/或万古霉素，大量研究发现：甲硝唑疗效降低并出现耐药菌株，万古霉素敏感性降低，导致艰难梭菌相关性腹泻(Clostridium difficile associated disease，CDAD)耐药率高、复发率高、难治率高、死亡率高、医疗费用高。艰难梭菌流行株对多种抗菌药物均有耐药性，而大量抗菌药物不合理使用是导致CDI最主要的危险因素。广州李永强等报道艰难梭菌多重耐药情况普遍，三重及以上耐药株占80％(李永强，聂玉强,杨银梅.临床分离艰难梭菌的耐药性分析[J].胃肠病学和肝病学杂志,2010,19(10):922-925)；英国Mutlu等报道艰难梭菌的某些型别菌株双重及三重耐药率高达52.6％-95.4％(Mutlu,E.and A.J.Wroe,et al.(2007).Molecular characterization and antimicrobial susceptibilitypatterns of Clostridium difficile strains isolated from hospitals in south-east Scotland.J Med Microbiol 56(Pt 7):921-9.)。艰难梭菌尤其对四环素类、林可霉素类、喹诺酮类、利福霉素类及一线药物的耐药性不断增强。