[发明专利]高发光效率发光二极管外延片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510855764.3 申请日: 2015-11-30
公开(公告)号: CN105514233A 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 孙玉芹;王江波 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 发光 效率 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及发光二极管(英文LightEmittingDiode,简称LED)领域,特 别涉及一种高发光效率发光二极管外延片及其制备方法。

背景技术

LED因高亮度、低热量、长寿命、无毒、可回收再利用等优点,被称为是 21世纪最有发展前景的绿色照明光源。GaN基LED作为LED中最重要的一类, 在众多领域都有着广泛的应用。现有的GaN基LED的外延片主要包括衬底、缓 冲层、N型GaN层、多量子阱有源层、P型AlGaN层、P型GaN载流子层等。

GaN基LED在工作过程中,N型GaN层中产生的电子和P型GaN载流子 层中产生的空穴,在电场的作用下向多量子阱有源层迁移,并在多量子阱有源 层中发生辐射复合,进而发光。

在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:

随着GaN基LED工作电流的增加,电流密度随之增大,在这种大电流密度 场景下,注入多量子阱有源层中的电子也随之增多,导致部分电子未能与空穴 在多量子阱有源层中复合而迁移至P型GaN载流子层中,致使电子溢漏的程度 增加,使得大电流密度情况下LED芯片的发光效率下降。

发明内容

为了解决现有技术的问题,本发明实施例提供了一种高发光效率发光二极 管外延片及其制备方法。所述技术方案如下:

第一方面,本发明实施例提供了一种高发光效率发光二极管外延片,所述 高发光效率发光二极管外延片包括:衬底,以及依次覆盖在所述衬底上的u型 GaN层、N型GaN层、多量子阱有源层、P型AlGaN层和P型GaN载流子层, 所述多量子阱有源层包括交替生长的多个InGaN阱层和多个GaN垒层;

所述P型AlGaN层包括依次覆盖在所述多量子阱有源层上的第一P型 AlGaN子层、u型GaN子层和第二P型AlGaN子层,所述u型GaN子层的厚 度为所述P型AlGaN层的厚度的1/50-1/40。

在本发明实施例的一种实现方式中,所述u型GaN子层的厚度为D,0.6nm ≤D≤2nm。

在本发明实施例的另一种实现方式中,所述第一P型AlGaN子层的厚度为 d1,所述第二P型AlGaN子层的厚度为d2,d2/d1的范围为1/13-1/9。

在本发明实施例的另一种实现方式中,30nm≤d1+d2≤80nm,3nm≤d2≤ 6nm。

在本发明实施例的另一种实现方式中,所述N型GaN层的厚度为1~4μm, 所述P型GaN载流子层的厚度为100~500nm。

第二方面,本发明实施例还提供了一种高发光效率发光二极管外延片制备 方法,所述方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上依次生长u型GaN层和N型GaN层;

在所述N型GaN层上生长多量子阱有源层,所述多量子阱有源层包括交替 生长的多个InGaN阱层和多个GaN垒;

在所述多量子阱有源层上生长P型AlGaN层,所述P型AlGaN层包括依次 覆盖在所述多量子阱有源层上的第一P型AlGaN子层、u型GaN子层和第二P 型AlGaN子层,所述u型GaN子层的厚度为所述P型AlGaN层的厚度的 1/50-1/40;

在所述P型AlGaN层上生长P型GaN载流子层。

在本发明实施例的一种实现方式中,所述u型GaN子层的厚度为D,0.6nm ≤D≤2nm。

在本发明实施例的另一种实现方式中,所述第一P型AlGaN子层的厚度为 d1,所述第二P型AlGaN子层的厚度为d2,d2/d1的范围为1/13-1/9。

在本发明实施例的另一种实现方式中,30nm≤d1+d2≤80nm,3nm≤d2≤ 6nm。

在本发明实施例的另一种实现方式中,所述N型GaN层的厚度为1~4μm, 所述P型GaN载流子层的厚度为100~500nm。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:

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