[发明专利]一种金相试样磨抛夹持装置及其套件

说明书

技术领域

本发明涉及金相实验设备领域，具体的是一种金相试样磨抛夹持装置，还是一种含有该金相试样磨抛夹持装置的金相试样磨抛夹持装置套件。

背景技术

理化实验室进行显微组织观察时，如在制备金相试样的时候必须进行研磨、抛光工序，通常这两道工序需要技术人员长时间手持试样按压在高速旋转的砂纸和抛光绒上进行，这种方式存在一定程度上的安全隐患。工作人员长时间使用手持的方式，工作强度大。

另外，由于制样过程繁琐复杂，在制作的过程中，技术人员必须全过程手持试样，因此耗费了大量的人力。此外，由于人为的不稳定因素，会导致试样磨偏或者试样飞出。

发明内容

为了解决传统的手工研磨、抛光金相试样不稳定的问题，本发明提供了一种金相试样磨抛夹持装置及其套件，当需要进行磨样时，可将多个试样固定与本装置之上，再放置于磨抛设备进行无人自动磨抛，需要跟换砂纸时，停止磨抛设备，整体取下工装，更换砂纸，放置工装即可继续进行。此外该装置可以同时进行多个试样制作，大大提高了工作效率。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种金相试样磨抛夹持装置，所述金相试样磨抛夹持装置呈板状，所述金相试样磨抛夹持装置含有中央区域，中央区域的周围设有多个外凸部，每个外凸部内均设有能够插入金相试样的安装通孔，每个外凸部还设有用于将金相试样固定于安装通孔的固定部件。

安装通孔的边缘包括依次连接的第一边、第二边、第三边、第四边和第五边。

第三边平行于所述金相试样磨抛夹持装置的径向，第二边和第四边均垂直于第三边，第一边和第五边之间垂直，第一边和第二边之间的夹角为135°，第四边和第五边之间的夹角为135°。

固定部件为插设于外凸部的螺钉，该螺钉的中心线平行与所述金相试样磨抛夹持装置，该螺钉的中心线垂直于第三边，该螺钉位于第三边的中部。

外凸部的厚度大于中央区域的厚度。

中央区域的中心设有第一定位通孔，第一定位通孔的轴线垂直于所述金相试样磨抛夹持装置，第一定位通孔周围设有多个第二定位通孔，第二定位通孔的轴线也垂直于所述金相试样磨抛夹持装置。

中央区域的周围均匀的设有三个外凸部，第一定位通孔周围设有与三个外凸部相对于的三个第二定位通孔，第二定位通孔的孔径大于第一定位通孔的孔径。

一种金相试样磨抛夹持套件，该金相试样磨抛夹持套件含有上述的金相试样磨抛夹持装置，该金相试样磨抛夹持套件还含有用于将该金相试样磨抛夹持装置固定于研磨或抛光设备的工作窗口的安装固定架，安装固定架含有环形的外框架，金相试样磨抛夹持装置能够套设于外框架内，外框架的内表面设有与外凸部一一对应的多个内凸部，内凸部设有与外凸部对应配合插接的卡槽。

外框架的大小与该研磨或抛光设备的工作窗口相对应，外框架的外表面设有多个固定于研磨或抛光设备的工作窗口的矩形耳片，每个矩形耳片上设有两个条形通孔。

中央区域的中心设有第一定位通孔，第一定位通孔的轴线垂直于所述金相试样磨抛夹持装置，第一定位通孔周围设有多个第二定位通孔，第二定位通孔的轴线也垂直于所述金相试样磨抛夹持装置；该金相试样磨抛夹持套件还含有试样安装平台，试样安装平台含有平台安装板，平台安装板的面积大于金相试样磨抛夹持装置的面积，平台安装板的中部设有与第一定位通孔相匹配的螺纹柱，第一定位通孔的周围设有多个与第二定位通孔相匹配的定位柱，当螺纹柱插接于第一定位通孔时，定位柱与第二定位通孔一一对应插接。

本发明的有益效果是，当需要进行磨样时，可将多个试样固定与本装置之上，再放置于磨抛设备进行无人自动磨抛，需要跟换砂纸时，停止磨抛设备，整体取下工装，更换砂纸，放置工装即可继续进行。此外该装置可以同时进行多个试样制作，大大提高了工作效率。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步详细的描述。

图1为金相试样磨抛夹持装置的立体示意图。

图2为安装通孔的放大示意图。

图3为安装固定架的立体示意图。

图4为试样安装平台的立体示意图。

图5为金相试样磨抛夹持装置在安装金相试样时的状态示意图。

图6为金相试样磨抛夹持装置在抛光时的状态示意图。

其中10.金相试样磨抛夹持装置，11.中央区域，12.外凸部，13.安装通孔，14.固定部件，15.第一定位通孔，16.第二定位通孔；

131.第一边，132.第二边，133.第三边，134.第四边，135.第五边；