[发明专利]等离子体处理装置有效
| 申请号: | 201510622293.1 | 申请日: | 2015-09-25 |
| 公开(公告)号: | CN105463385B | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
| 发明(设计)人: | 川又由雄 | 申请(专利权)人: | 芝浦机械电子装置株式会社 |
| 主分类号: | C23C14/34 | 分类号: | C23C14/34;C23C14/56;H01J37/32 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张洋;臧建明 |
| 地址: | 日本神奈川县横*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 | ||
本发明提供一种等离子体处理装置,包括筒形电极(10),所述筒形电极(10)在一端设有开口部(11),且内部被导入工艺气体。筒形电极(10)与施加高频电压的高频电源连接。等离子体处理装置包括旋转台(3)作为搬送部,旋转台(3)使工件(W)通过筒形电极(10)的开口部(11)的正下方。等离子体处理装置还包括磁性构件(17),所述磁性构件(17)在开口部(11)的附近,形成包含与工件(W)的搬送方向大致平行的磁力线的磁场(B)。本发明能够减少等离子体的泄漏,且使蚀刻速率提高。
技术领域
本发明涉及一种等离子体(plasma)处理装置。
背景技术
在半导体装置或液晶显示器(display)或者光盘(disk)等各种制品的制造步骤中,有在例如晶片(wafer)或玻璃(glass)基板等工件(work)上形成光学膜等薄膜的情况。薄膜可以通过对工件重复进行形成金属等的膜的成膜、及对所形成的膜重复进行蚀刻(etching)、氧化或氮化等膜处理而制成。
成膜及膜处理可以利用各种方法而进行,作为其中之一,有使用等离子体的方法。成膜是在真空容器内配置包含要成膜的材料的靶材(target)。向真空容器内导入惰性气体,且对靶材施加直流电压使惰性气体等离子体化而生成离子,并使该离子碰撞靶材。从靶材击出的材料堆积在工件上,由此进行成膜。
膜处理是在真空容器内配置用于使等离子体产生的电极,且将已成膜的工件配置在电极的下方。向真空容器内导入工艺气体(process gas),且对电极施加高频电压使工艺气体等离子体化而生成离子。在蚀刻的情况下,工艺气体使用氩气等惰性气体。在氧化处理的情况下,工艺气体使用氧气,在氮化处理的情况下,工艺气体使用氮气。通过使所生成的离子碰撞工件上的膜,而进行对膜进行蚀刻、或者生成氧化物或氮化物等膜处理。
存在如下的等离子体处理装置:在一个真空容器的内部配置旋转台(table),且沿旋转台的上方的周向配置多个成膜用单元(unit)与膜处理用单元,以便能够连续进行这种成膜与膜处理(例如,参照专利文献1及专利文献2)。将工件保持于旋转台上进行搬送,且使其通过成膜单元与膜处理单元的正下方,由此形成光学膜等。
例如,如专利文献1及专利文献2般的将电极形成为上端封闭的筒状(以下,称为“筒形电极”)的膜处理单元中,将工艺气体导入至筒形电极的内部,由此,等离子体产生于筒形电极的内部。将筒形电极的开口部以与旋转台的面隔开狭小的间隙(clearance)而相向的方式配置,且构成为工件在狭小的间隙处通过开口部的下方。由此,能够一面减少等离子体的外部流出一面进行膜处理。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本专利特开2002-256428号公报
[专利文献2]日本专利特公昭57-27183号公报
发明内容
[发明所要解决的问题]
在膜处理单元中,为了使蚀刻速率或化合物生成速率提高,需要使对电极施加的电压增加,或者使导入的工艺气体的压力增加。然而,如果电压或气压增加,则有如下可能性:产生于筒形电极内部的等离子体向外部扩散,自偏压(self-bias voltage)反转,而使膜处理不成立。
本发明为了解决所述课题,目的在于抑制筒形电极的内部的放电向外部泄漏,使等离子体处理装置的处理稳定化且使处理速度提高。
[解决问题的技术手段]
为了达成所述目的,本发明的等离子体处理装置包括:筒形电极,在一端设有开口部,且内部被导入工艺气体;电源,对所述筒形电极施加电压;搬送部,对工件在所述开口部的正下方进行搬入及搬出;以及磁性构件,在所述开口部的附近,形成包含与所述工件的搬送方向平行的磁力线的磁场。
[发明的效果]
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