[发明专利]光掩模坯在审
| 申请号: | 201510575349.2 | 申请日: | 2015-09-11 |
| 公开(公告)号: | CN105425534A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
| 发明(设计)人: | 深谷创一;笹本纮平 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
| 主分类号: | G03F1/50 | 分类号: | G03F1/50;G03F1/26 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 石宝忠 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光掩模坯 | ||
1.光掩模坯,包括石英基板和在该石英基板上形成的铬系材料膜,该铬系材料膜包含选自由氮、氧、碳和氢组成的组中的至少一种,
其中该铬系材料膜为硬掩模膜,
表示氯系干蚀刻中该铬系材料膜的每单位膜厚度的蚀刻速率的A与表示所述氯系干蚀刻中只由铬组成的膜的每单位膜厚度的蚀刻速率的B之比(A/B)在0.7-0.9的范围内,并且
在具有152mm见方尺寸和6.35mm厚度的石英基板上形成该铬系材料膜,并且在至少150℃的温度下进行热处理历时至少10分钟时,该铬系材料膜具有对应于70nm以下的翘曲量的拉伸应力或压缩应力。
2.权利要求1的光掩模坯,其中该翘曲量为50nm以下。
3.权利要求1的光掩模坯,其中比率(A/B)在0.75-0.85的范围内。
4.权利要求1的光掩模坯,其中该铬系材料膜具有4nm-50nm的范围内的厚度。
5.权利要求1的光掩模坯,其中该热处理的温度为300℃以下。
6.权利要求1的光掩模坯,其中该铬系材料膜为CrCNO膜。
7.权利要求1的光掩模坯,其中该铬系材料膜为单层膜。
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G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备





