[发明专利]一种HKMG器件的制备方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路制造领域，特别涉及一种HKMG(高k栅极绝缘层+金属栅极)器件的制备方法。

背景技术

随着超大规模集成电路技术的迅速发展，MOSFET器件的尺寸在不断减小，通常包括：MOSFET器件沟道长度的减小，栅氧化层厚度的减薄等以获得更快的器件速度。但是发展至超深亚微米级，特别是45纳米及以下技术节点时，已无法承受持续降低栅氧厚度所带来的高漏电。业界在45纳米及以下工艺引入了高k栅极绝缘层和金属栅的设计，在28纳米以后，出于高k(高介电值)材料的热稳定性考虑更是统一使用HKMG(高k栅极绝缘层+金属栅极)的后栅极工艺。

现有技术利用业界熟知的冗余多晶硅成形技术制备HKMG器件，具体流程如图1～4所示，步骤包括：

首先，在半导体衬底1上生长一层厚栅氧2；

接着，正常流程生长多晶硅层3，对所述多晶硅层3进行图形化处理，以在所述多晶硅层3上待形成栅极区域之外的其它区域形成隔离层4，具体如图2所示。

接着，如图3所示，采用干法刻蚀栅极区域冗余的多晶硅层3，并以厚栅氧2为截止层。由于HKMG器件对厚栅氧2厚度的要求较高，这就需要多晶硅与二氧化硅刻蚀选择比必须到达1：100甚至更高，因此，此步骤中对多晶硅层3的刻蚀调整和控制非常困难。另外也有干法刻蚀加湿法刻蚀组合，但干法刻蚀对机台的稳定性有极高的要求。同时湿法刻蚀也需要保持非常多的过刻蚀来保证无残留，对底层厚栅氧2的损失较大。

最后，如图4所示，按照正常流程图形化剥离厚栅氧2，成长初始氧化层和淀积高k材料5以及填充金属栅材料6。

由此可知，上述流程对刻蚀工艺的精度控制要求极其高，稍微过刻就会影响初始氧化膜的厚度和沟道区硅衬底的表面平整度，少刻就会导致多晶硅残留，工艺窗口极小。

发明内容

本发明提供一种HKMG器件的制备方法，以解决现有技术中存在的上述技术问题。

为解决上述技术问题，本发明提供一种HKMG器件的制备方法，包括：

步骤1：提供半导体衬底；

步骤2：在所述半导体衬底上依次沉积厚栅氧、氮化硅膜和二氧化硅膜，并在所述二氧化硅膜上沉积多晶硅；

步骤3：对所述多晶硅进行图形化处理，以在所述多晶硅上待形成栅极的区域之外形成隔离层，所述隔离层与半导体衬底以及栅极区域之间形成有刻蚀停止层；

步骤4：刻蚀去除栅极区域的多晶硅；

步骤5：剥离去除栅极区域剩余的二氧化硅膜和氮化硅膜；

步骤6：在栅极区域填充高k介质层和金属栅材料。

作为优选，所述步骤2中，采用原子位沉积方法在所述厚栅氧上沉积所述氮化硅膜和二氧化硅膜。

作为优选，所述氮化硅膜的厚度为40～100埃，所述二氧化硅膜的厚度为20～100埃。

作为优选，所述步骤3包括：

步骤31：在所述多晶硅上待形成栅极的区域涂覆光刻胶；

步骤32：以所述光刻胶为掩膜，以半导体衬底为截止层，刻蚀栅极区域以外的所述多晶硅、二氧化硅膜、氮化硅膜和厚栅氧，以形成凹槽；

步骤33：在所述凹槽内的所述半导体衬底上以及凹槽边缘形成刻蚀停止层，并在所述凹槽中填充绝缘材料形成隔离层。

作为优选，所述步骤5中，采用湿法剥离工艺去除剩余的二氧化硅膜和氮化硅膜。

作为优选，采用DHF(稀氢氟酸)去除剩余的二氧化硅膜，采用磷酸去除所述氮化硅膜。

作为优选，在形成核心低电压器件时，所述步骤6包括：剥离去除所述厚栅氧，并在半导体衬底上依次沉积初始氧化层，在所述初始氧化层上依次填充高k介质层、功函数金属层和金属栅材料。

作为优选，在形成IO器件时，所述步骤6包括：在所述厚栅氧上依次填充高k介质层、功函数金属层和金属栅材料。

作为优选，所述金属栅材料采用铝，所述厚栅氧采用二氧化硅。

作为优选，所述步骤4中，采用干法刻蚀工艺去除栅极区域的多晶硅层。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

1、本发明通过在半导体衬底上形成氧(厚栅氧)-氮化硅-氧(二氧化硅膜)组合膜，各层的沉积均可以直接在已有设备中进行，没有额外的设备投入，并且氧-氮化硅-氧属于前段标准材料，无需担心污染或热稳定性问题；

2、在刻蚀多晶硅步骤中，刻蚀停在最上层二氧化硅膜上，由于最上层二氧化硅膜属于牺牲层，允许多晶硅与二氧化硅刻蚀选择比低至1：10，相对于现有技术，本发明的刻蚀容易调整和控制，更易于大规模生产；