[发明专利]一种封装微波开关测试装置有效
申请号: | 201510524441.6 | 申请日: | 2015-08-25 |
公开(公告)号: | CN105093105B | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 袁文;张世艳;杜勇 | 申请(专利权)人: | 贵州航天计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 商小川 |
地址: | 550009 *** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 封装 微波 开关 测试 装置 | ||
1.一种封装微波开关测试装置,其特征在于:包括测试夹具(1)、放置微波开关(2)的测试探针模块(3)和测试电路板(4),所述测试夹具(1)置于测试电路板(4)上,固定连接到金属底板(5)上,所述测试探针模块(3)可活动地连接在测试夹具(1)中部,内置一端与测试电路板(4)接触的可弹性伸缩的测试探针(10),所述测试探针(10)上端与微波开关(2)的信号输入管脚连接,所述测试电路板(4)安装在金属底板(5)上,通过导线连接到监测设备;所述测试夹具(1)包括压块(11)和夹具下框(15),所述压块(11)上设置有用于紧固微波开关(2)的凸台(12),可活动地连接到盖板(21)上,所述盖板(21)通过盖板转轴(29)连接到夹具下框(15)上,通过卡合的方式进行紧固;所述凸台(12)端面上设置有用于微波开关定位的U型凹槽(14),U型定位凹槽两侧壁(14)可接触到微波开关(2)管脚方向的器件侧壁上;所述金属底板(5)材料采用铜材料,表面涂覆一层镀金。
2.根据权利要求1所述的一种封装微波开关测试装置,其特征在于:所述测试探针模块(3)包括内腔主体(17)和测试探针(10),所述内腔主体(17)内设置有放置微波开关(2)的腔体(13)和放置测试探针(10)的安装孔(16),所述测试探针(10)包括针头(18)、下端开口的探管(19)和探针弹簧(20),所述针头(18)置于探管(19)内,下端连接到探针弹簧(20),所述探针弹簧(20)另一端固定连接到探管(19)上端,所述腔体(13)上端连通到测试夹具(1)上端面。
3.根据权利要求1所述的一种封装微波开关测试装置,其特征在于:所述测试电路板(4)通过设置SMA接头一(6)、SMA接头二(7)和SMA接头三(8)连接到监测设备上,所述SMA接头一(6)用于信号输出连接,所述SMA接头二(7)用于通道一输出连接,所述SMA接头三(8)用于通道三输出连接,所述SMA接头一(6)、SMA接头二(7)和SMA接头三(8)固定连接在夹具下框(15)左右侧端面上,内芯分别与微波开关(2)管脚保持接触。
4.根据权利要求1所述的一种封装微波开关测试装置,其特征在于:所述测试电路板(4)的底部设置电源和控制逻辑电路输入端(9),所述电源和控制逻辑电路输入端(9)穿过金属底板(5)。
5.根据权利要求1所述的一种封装微波开关测试装置,其特征在于:所述盖板(21)上前端设置有卡舌(22),所述夹具下框(15)上前端设置有卡槽(23),所述卡舌(17)通过转轴(24)连接到盖板(16)上,背面并设置有接触的拉伸弹簧(28),所述拉伸弹簧(28)连接在盖板(16)上,位于转轴(24)偏下位置,通过卡槽(18)和卡舌(17)实现卡合紧固连接。
6.根据权利要求1所述的一种封装微波开关测试装置,其特征在于:所述盖板(21)上端面设置有按压把手(24),所述按压把手(24)包括旋转按钮和固定连接在旋转按钮底部的螺旋杆(29),所述旋转按钮包括旋转盘(26)和旋转盘(26)上设置的拧动凸台(27),所述螺旋杆(29)置于盖板(21)的螺旋孔内,下端与压块(11)可活动地连接,可向下推动压块(11)移动。
7.根据权利要求6所述的一种封装微波开关测试装置,其特征在于:所述旋转盘(26)端面为鸡蛋形的盘形凸轮式结构,所述旋转盘(26)离轴心远端可绕轴线旋转到卡舌(22)后侧接触。
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