[发明专利]光学膜检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及光学膜检查装置。

背景技术

图像显示装置中使用起偏器、TAC、相位差膜等这样的各种光学膜。随着图像显示装置的发展，对用于其的光学膜也要求高的品质。

但是，光学膜制造时，由于各种原因而产生不良。例如，存在形成光学膜的树脂组合物中混入异物的情形、树脂组合物的膜固化时产生气泡的情形、多层结构膜的形成时在层间混入异物的情形、在膜表面产生划痕的情形、在膜中产生翘曲的情形等各种因素。

由于上述的引起不良的各种因素，产生各种形状的缺陷。例如，如果将异物插入或者产生气泡，则光学膜的表面在该位置产生凹凸状的缺陷，产生了划痕的情况下在膜表面产生直线状的缺陷。

光学膜的制造完成后，为了将产生了这样的缺陷的部分除去，具备检测缺陷的工序。作为检测缺陷的方法之一，使用用摄影设备对光学膜的表面进行摄影，对该图像分析的方法。

但是，容易地观测各种形状的缺陷的摄像条件不相同。因此，为了以高的精度检测各种形状的缺陷，必须设定各种摄像条件，因此必须具备多个光源和照相机，因此产生空间和经济性的问题。

虽然韩国注册专利第1082699号公报中公开了光学膜用检查装置，但也存在该系统中需要多个光源和照相机的问题。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：韩国注册专利第1082699号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

本发明的目的在于提供不需要多个光源和摄像装置的情况下能够以高精度检测各种缺陷的光学膜检查装置。

本发明的目的在于提供该光学膜检查方法。

技术手段

1.光学膜检查装置，其具备从被转送的膜的一侧照射光的光源、和对上述膜进行摄像的摄像装置，照射光的上述膜的光照射区域和被摄像的上述膜的摄像区域的一部分重合。

2.上述项目1的光学膜检查装置，其中，上述光源和摄像装置在膜的转送方向上彼此隔离。

3.上述项目1的光学膜检查装置，其中，上述光源的光照射方向与摄像装置的摄像方向平行。

4.上述项目1的光学膜检查装置，其中，上述光源的光照射方向与摄像装置的摄像方向不平行。

5.上述项目1的光学膜检查装置，其中，将上述摄像区域根据膜的转送方向划分为具有不同的照度范围的2个以上的子摄像区域，还具备：为了在每个上述子摄像区域分别取得膜全体的图像而发出摄像周期信号的周期信号发生部；和接收来自上述周期信号发生部的摄像周期信号，在每个摄像周期将摄像信号传送到上述摄像装置，由从上述摄像装置接收的摄像图像检测缺陷的控制部。

6.上述项目5的光学膜检查装置，其中，上述各子摄像区域具有彼此相同的宽度，上述周期信号发生部在每次将膜转送上述子摄像区域的宽度的部分时发出摄像周期信号。

7.上述项目5的光学膜检查装置，其中，上述控制部通过将从各子摄像区域接收的摄像图像与子摄像区域分别结合，从而在每个子摄像区域中取得膜全体图像，基于此来检测缺陷。

8.上述项目1的光学膜检查装置，其中，上述光照射区域包含光学膜的有效区域，上述光源是在上述有效区域中以在膜的宽度方向上具有同一照度的方式照射光的光源。

9.上述项目5的光学膜的检查装置，其中，上述缺陷为异物缺陷、凹凸缺陷、或划痕缺陷。

10.上述项目9的光学膜检查装置，其中，上述异物缺陷是在与周边的正常区域的照度差为10灰度以上的区域中横、纵的长度分别为30μm以上的黑色缺陷，凹凸缺陷是在与周边的正常区域的照度差为10灰度以上的区域中横、纵的长度分别为30μm以上的黑白缺陷，划痕缺陷是在与周边的正常区域的照度差为10灰度以上的区域中宽度为30μm以上且长度为宽度的3倍以上的缺陷。

11.光学膜的检查方法，是从被转送的膜的一侧照射光，对上述膜进行摄像来检测光学膜的缺陷的方法，其中，照射光的上述膜的光照射区域和被摄像的上述膜的摄像区域的一部分重合。

12.上述项目11的光学膜的检查方法，其中，将上述光源和摄像装置以在膜的转送方向相互隔离的方式配置。

13.上述项目11的光学膜的检查方法，其中，以使上述光源的光照射方向与摄像装置的摄像方向平行的方式配置。

14.上述项目11的光学膜的检查方法，其中，以使上述光源的光照射方向与摄像装置的摄像方向不平行的方式配置。