[发明专利]显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法

说明书

本发明涉及一种显示面板、液晶显示装置及其测试方法。本发明的显示面板包括：显示区和GOA电路区，其特征在于，所述GOA电路区包括：设置于TFT基板的多个GOA单元；以及设置于所述CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域，所述显示面板进一步包括：与所述电容结构电连接的信号线；以及通过所述信号线引出的测试点。根据本发明能够通过监控测试点上的电压就能够快速找到GOA电路区中发生短路/断路的位置，从而能够缩短查找ESD和短路/断路的时间并且提高分析和改善速度。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术，特别是涉及采用GOA（Gate Driver On Array，显示面板行扫描驱动）电路的显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法。

背景技术

在主动式矩阵液晶显示器中，每个像素具有一个薄膜晶体管（TFT），其栅极电性连接至水平方向的扫描线，漏极电性连接至垂直方向的数据线，而源极电性连接至像素电极。若在水平方向的某一条扫描线施加足够的正电压，会使该条扫描线上的所有TFT打开，此时该条扫描线对应的像素电极与垂直方向的数据线连接，而将数据线的信号电压写入像素中。一般，该驱动电路主要是由液晶面板外黏接IC（集成电路）来完成的。

近年来又提出了GOA技术，该GOA（Gate Driver On Array，显示面板行扫描驱动）是直接将栅极驱动电路（Gate Driver IC）制作在阵列（Array）基板上，由此来代替由外接硅片制作的驱动芯片。现今，在液晶显示技术领域，GOA技术已经得到了广泛的发展和应用，因为GOA技术能够减少生产工艺程序、能够降低产品工艺成本。另外，GOA面板从GOA分布上可以分为单边GOA面板和双边GOA面板。

虽然GOA技术已经广泛应用在液晶制造领域，然而由于其电路连接及工艺的复杂性，GOA电路的良品率并不是很高，其中，影响其良品率的一个主要因素为静电积累和ESD（Electro-Static discharge，静电释放）。在现有的GOA电路的制造过程中，由于面板上走线之间的相邻较近，容易发生ESD等的不良情况。

图1是表示现有技术中采用GOA技术的显示面板的示意图。

如图1所示，在采用GOA技术的显示面板中，该显示面板包括：显示区和GOA区，所述显示区包括纵横交叉的多条栅线和多条数据线， GOA区中设置有GOA单元。如果发生ESD及short（即图1中的短路点）的情况下，对于采用GOA技术的显示面板，目前只能沿着面板走线（栅线和数据线）及GOA单元逐项排除，并且不一定能够找到。这是因为，GOA单元内部及信号走线之间ESD点隐蔽，不容易被准确找到和定位，影响了分析和改善的进行，因此，这样的情况下，ESD类相关不良的分析效率会降低并且其改善精度也会降低。

发明内容

鉴于上述问题，本发明旨在提供一种能够快速、准确定位ESD和短路/断路发生位置的显示面板、液晶显示装置及其电路测试方法。

本发明的显示面板包括显示区和GOA电路区，其特征在于，所述GOA电路区包括：

设置于TFT基板的多个GOA单元；以及

设置于CF基板的、与所述GOA单元对应的位置并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域，

所述显示面板进一步包括：

与所述电容结构电连接的信号线；以及

通过所述信号线引出的测试点。

优选地，所述金属区域是ITO层。

优选地，所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。

优选地，所述测试点设置在所述GOA电路区的外部。

优选地，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。