[发明专利]显示面板、触控面板、液晶显示装置及其测试方法

权利要求书

1.一种显示面板，包括：显示区和GOA电路区，其特征在于，

所述GOA电路区包括：

设置于TFT基板的多个GOA单元；以及

设置于CF基板的与所述GOA单元对应的位置处并且与所述GOA单元构成电容结构的金属区域，

所述显示面板进一步包括：

与所述电容结构电连接的信号线；以及

通过所述信号线引出的测试点。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述金属区域是ITO层。

3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，

所述金属区域形成为与所述GOA单元对应的矩形。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，

所述测试点设置在所述GOA电路区的外部。

5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，

所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接。

6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，

所述测试点是所述信号线通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的测试点。

7.如权利要求1～6任意一项所述的显示面板，其特征在于，

当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，所述金属区域也与所述GOA电路区对应地在所述显示区两边对称分布。

8.一种显示面板的电路测试方法，所述显示面板包括显示区和GOA电路区，所述GOA电路区包括设置于TFT基板的GOA单元，其特征在于，该方法包括下述步骤：

电容构成步骤，在CF基板上的与所述GOA单元对应的位置设置金属区域以使得所述金属区域与所述GOA单元构成电容结构；

信号引出步骤，从所述电容结构引出信号线；

测试点形成步骤，将所述信号线引出到所述GOA电路区的外部并且将该GOA电路区的外部的引出点作为测试点；

信号测试步骤，通过测试所述测试点的电压变化来监控GOA单元的工作状态。

9.如权利要求8所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，

在所述电容构成步骤中，采用ITO层构成所述金属区域。

10.如权利要求9所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，

在所述电容构成步骤中，将所述金属区域形成为矩形。

11.如权利要求10所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，

在所述信号引出步骤中，所述信号线与所述电容结构中的所述GOA电路区连接而引出信号。

12.如权利要求11所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，

在所述测试点形成步骤中，将通过所述信号线使信号通过IC电路引导到GOA电路区外部的FPC上的引出点作为测试点。

13.如权利要求9～12任意一项所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，

在所述信号测试步骤中，通过测试所述测试点的电压变化监控所述GOA电路区的工作状态。

14.如权利要求13所述的显示面板的电路测试方法，其特征在于，

在所述电容构成步骤中，当所述GOA电路区在所述显示区两边对称分布的情况下，与所述GOA电路区对应地，所述金属区域也在所述显示区两边对称分布。