[发明专利]用于检测彩膜基板的画素的方法

说明书

本发明提出了一种用于检测彩膜基板的画素的方法，其特征在于，包括：步骤一：以画素为基准测量临近的间隔物的高度，得到间隔物高度的测量值H；步骤二：比较H与规格范围值h的大小，如果H在规范范围值h的范围之内，则画素的膜厚符合要求，如果H不在规范范围值h的范围之内，则画素的膜厚不符合要求。该方法能有助于判断彩膜基板的画素是否符合要求，以有效拦截具有不良画素的彩膜基板，避免其漏放到后段制程中。

技术领域

本发明涉及液晶显示面板生产技术领域，尤其是涉及一种用于检测彩膜基板的画素的方法。

背景技术

随着液晶显示技术的不断发展，对液晶显示设备的质量要求也越来越高。然而在现有技术的彩膜基板的制作过程中，并没有检测画素的工序，也就是没有检测彩膜基板的画素是否合格的步骤。

由此，在彩膜基板的生产过程中，可能存在画素不合格的情况。例如，画素有可能缺失或缺损，而这种缺失或缺损如果漏放到面板中，会引起产品的品质降低甚至产品报废。进一步地，具有该不良画素的液晶显示器会漏放到客户处，则可能造成客户不满和投诉，影响公司信誉。

因此，需要提供一种用于检测彩膜基板的画素的方法，以避免不良的彩膜基板后流到后续工序和产品中。

发明内容

针对现有技术中所存在的上述技术问题，本发明提出了一种用于检测彩膜基板的画素的方法。该方法能有助于判断彩膜基板的画素是否符合要求，以有效拦截具有不良画素的彩膜基板，避免其漏放到后段制程中。

根据本发明提出了一种用于检测彩膜基板的画素的方法，包括：

步骤一：以画素为基准测量临近的间隔物的高度，得到间隔物高度的测量值H；

步骤二：比较H与规格范围值h的大小，如果H在规范范围值h的范围之内，则画素的膜厚符合要求，如果H不在规范范围值h的范围之内，则画素的膜厚不符合要求。

在一个实施例中，在所述步骤二中，h的范围由间隔物的设计最小尺寸与所述画素的设计膜厚的上公差的差到间隔物的设计最大尺寸与所述画素的设计膜厚的下公差的差，

或h的范围由间隔物的设计最小尺寸到间隔物的设计最大尺寸。

在一个实施例中，以相同宽度的相邻的画素R、G、B分别作为基准测量同一间隔物的高度，分别得到HR、HG、HB，并且，分别将HR、HG、HB与h的大小进行比较，以判断R、G、B的膜厚是否符合要求。

在一个实施例中，在整个所述彩膜基板上选取多个间隔物，并以画素R、G、B分别作为基准测量相应的间隔物的高度H，比较H与规格范围值h的大小，并根据选取的画素的膜厚符合要求的画素数量与选取的总的画素的数量的商来计算画素的符合要求率，如果符合要求率小于固定值时，则去除所述画素并重新制造所述彩膜基板。优选地，所述固定值为80％。

在一个实施例中，分别根据选取的画素R或画素G或画素B的符合要求的画素数量与选取的相对应的总的画素R或画素G或画素B的数量的商来计算画素R、G、B的符合要求率。

在一个实施例中，选取的间隔物在所述彩膜基板上均匀分布。

在一个实施例中，选取的间隔物在所述彩膜基板上的分布密度在由中间到边缘的方向上减小。

在一个实施例中，以相同宽度的相邻的画素R、G、B作为画素组，在所述彩膜基板上每500-10000个画素组中选取一个所述画素组以测量相对应的间隔物的高度。

在一个实施例中，采用白光干涉仪测量间隔物的高度。