[发明专利]蚀刻方法和蚀刻装置在审
申请号: | 201510379150.2 | 申请日: | 2015-07-01 |
公开(公告)号: | CN105244270A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 户田聪;成嶋健索;高桥宏幸 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311;H01J37/32 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 蚀刻 方法 装置 | ||
1.一种蚀刻方法,其特征在于,对载置于处理容器内的被疏密的图案层划分了蚀刻区域的被处理基板上的氧化硅层以均匀的蚀刻速度进行蚀刻、到达该氧化硅层的下层之前停止蚀刻的方法中,包含以下的工序:
在真空气氛中对被处理基板进行加热的工序;
从气体供给部向所述被处理基板供给预先混合了氟化氢气体与氨气的处理气体作为蚀刻气体的工序;和
停止所述蚀刻气体的供给的工序,
并且,供给所述蚀刻气体的工序和停止所述蚀刻气体的供给的工序重复多次,
在向所述被处理基板供给所述蚀刻气体时,在供给所述蚀刻气体之前从所述气体供给部向所述被处理基板供给所述氨气,
预先供给氨气的时间为0.5秒至15秒;
其中所述处理容器的内表面的温度为140±10℃;
其中对所述被处理基板每次供给处理气体的时间长为0.5秒~5秒,对所述被处理基板每次停止供给处理气体的时间长为5秒~20秒。
2.根据权利要求1所述的蚀刻方法,其特征在于,所述气体供给部具有面向载置于处理容器内的被处理基板的多个气体供给孔。
3.一种蚀刻装置,其特征在于,其为对被图案层划分了蚀刻区域的被处理基板上的氧化硅层进行蚀刻、在到达该氧化硅层的下层之前停止蚀刻的方法所使用的装置,其具备:
具有载置被处理基板的载置部的处理容器;
为了对载置于所述载置部的被处理基板供给预先混合了氟化氢气体与氨气的处理气体作为蚀刻气体而构成、且以面对被处理基板的方式设置有多个气体供给孔的气体供给部,
用于对所述处理容器内进行真空排气的真空排气部;和
输出控制信号的控制部,所述控制信号以重复进行用于从所述气体供给部对所述被处理基板多次供给用于蚀刻的处理气体的工序;以及、停止所述蚀刻气体的供给的工序的方式来控制所述气体供给部,并且
所述控制部在对所述被处理基板供给所述蚀刻气体中,在供给所述蚀刻气体之前由所述气体供给部对所述被处理基板供给所述氨气,并且预先供给氨气的时间为0.5秒至15秒;
其中所述处理容器的内表面的温度为140±10℃;
其中对所述被处理基板每次供给处理气体的时间长为0.5秒~5秒,对所述被处理基板每次停止供给处理气体的时间长为5秒~20秒。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造