[发明专利]一种磁控溅射用BZT靶材的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510362728.3 申请日: 2015-06-26
公开(公告)号: CN105036740B 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 李玲霞;孙正;郑浩然;罗伟嘉 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C04B35/49;C04B35/622
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 代理人: 张宏祥
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁控溅射 bzt 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于电子信息材料与元器件领域,特别涉及一种用于制备BZT(锆钛酸钡)薄膜的BZT靶材的制备方法。

背景技术

铁电材料是一大类功能材料,具有压电效应、电致伸缩效应、热电效应、介电调谐等可供技术应用的物理特性,在信息存储、压电换能、热电摄像技术、压电点火、热电探测等一些列高新技术领域拥有广泛的应用。可以显著提高电子装备的运行水平,使其实现轻质化、功能化和高性能化,对下一代电子装备的小型化、信息化和高智能化等都起着举足轻重的作用。

钛酸钡(BaTiO3)是典型的钙铁矿型铁电材料,它具有很高的介电常数,被用来作为电容器材料,已成为高频电路元件中不可缺少的材料,而其也正在广泛地被应用于介电调谐、调频和存储等方面。此外现代生产中越重视生态及绿色环保,由于BaTiO3基固溶体中不含有毒铅元素,它的应用受到越来越多研究者的关注。

BZT(锆钛酸钡)是以BaTi03为基进行离子掺杂改性后的复合钙钛矿结构的陶瓷材料,也是一种铁电材料,在铁电动态随机存取存储器(DRAM)领域具有很好的应用前景。DRAM是现在半导体发展的核心技术,DRAM的密度的增加取决于其电容器尺寸的缩小,或者选用具有很高介电常数的材料。具有良好介电性能的薄膜材料同时兼具上述两个优势,使得DRAM的存储密度大幅提高。薄膜器件不同陶瓷等块体材料,其优点是体积小、重量轻、工作频率可以提高、易制造,表面光滑致密,而且可以通过改变薄膜厚度、基片类型和电形状等来调整器件的性能。

BZT薄膜制备方法分为化学法和物理方法。主要有激光脉冲沉积法,磁控溅射法,金属有机物化学沉积法,溶胶凝胶法等。磁控溅射法属于物理方法,它能够以较低的成本制备实用的大面积薄膜,制膜过程可以采用陶瓷靶材,也可以在氧气气氛中使用金属或者合金靶材。采用磁控溅射方法制备BZT薄膜,制备与磁控溅射设备相匹配的BZT陶瓷靶材是至关重要的,传统方法制备的BZT陶瓷靶材表面平整度较低、翘曲度高等缺点,与磁控溅射设备匹配不好并且在溅射过程中靶材容易断裂等缺点,不能制备出高质量的BZT薄膜。

发明内容

本发明的目的,是克服传统方法制备BZT陶瓷靶材表面平整度较低、翘曲度高等缺点,提供一种能够与磁控溅射设备相匹配、能满足工业化大量制备BZT薄膜要求的一种磁控溅射用BZT靶材的制备方法,

本发明通过如下技术方案予以实现。

一种磁控溅射用BZT靶材的制备方法,步骤如下:

(1)配制原料

按照BZT即锆钛酸钡的化合物分子式Ba(ZrxTi1-x)O3,其中0<x<1的元素摩尔质量比,将BaCO3、ZrO2、TiO2三种原料进行混合;

(2)一次球磨

将步骤(1)混合后的原料,按照原料与去离子水和锆球的质量比为1:1:1进行球磨,球磨时间为4~8小时;

(3)预烧

将步骤(2)一次球磨后的原料烘干,再于1000~1200℃进行预烧,保温2~4小时;

(4)二次球磨

将步骤(3)预烧后的原料,外加0.5~5wt%的PVA,按照原料与去离子水和锆球的质量比为1:1:1进行球磨,球磨时间为10~14小时;

(5)过筛

将步骤(4)二次球磨后原料进行烘干,烘干后过40~200目筛;

(6)成型

将步骤(5)过筛后的粉粒放入压片机中压制成型为坯体;

(7)排胶

将步骤(6)成型后的坯体放入低温炉中进行排胶,排胶温度为600~800℃;

(8)烧结

将步骤(7)排胶后的坯体于1300~1400℃高温烧结,升温速率1-5℃/min,保温时间为3~6小时,制得磁控溅射用BZT靶材。

所述步骤(1)的原料为分析纯试剂。

所述步骤(6)压制成型的坯体直径为40~100mm,工作压力为50-150Mpa,保压时间为1-5min。

所述步骤(7)的排胶温度为700℃。

所述步骤(8)的烧结温度为1350℃,保温时间为4小时。

所述步骤(8)将坯体置于高温炉中进行烧结的烧结方式,采用压烧方法以防止靶材弯曲变形。

本发明的有益效果:

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