[发明专利]低温多晶硅TFT基板的制作方法及低温多晶硅TFT基板有效
申请号: | 201510331333.7 | 申请日: | 2015-06-15 |
公开(公告)号: | CN105097666B | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 李松杉 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 低温 多晶 tft 制作方法 基板 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种低温多晶硅TFT基板的制作方法及低温多晶硅TFT基板。
背景技术
随着平板显示的发展,高分辨率,低能耗的面板需求不断被提出。低温多晶硅(Low Temperature Poly-Silicon,LTPS)由于具有较高的电子迁移率,而在液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)与有机发光二极管显示器Organic Light Emitting Diode,OLED)技术中得到了业界的重视,被视为实现低成本全彩平板显示的重要材料。对平板显示而言,采用低温多晶硅材料具有高分辨率、反应速度快、高亮度、高开口率、低能耗等优点,而且低温多晶硅可在低温下制作,并可用于制作C-MOS电路,因而被广泛研究,用以达到面板高分辨率,低能耗的需求。
低温多晶硅是多晶硅(poly-Si)技术的一个分支。多晶硅的分子结构在一颗晶粒中的排列状态是整齐而有方向性的,因此电子迁移率比排列杂乱的非晶硅(a-Si)快了200-300倍,极大的提高了平板显示的反应速度。目前制作低温多晶硅主要有:化学气相沉积(Chemical Vapor Deposition,CVD)、固相结晶(Solid Phase Crystallization,SPC)、金属诱导结晶(Metal-Induced Crystallization,MIC)、金属诱导横向结晶(Metal-Induced Lateral Crystallization,MILC)、准分子激光退火(Excimer Laser Annealing,ELA)等多种结晶制程方法。
请参阅图1至图6,现有低温多晶硅TFT基板的制作方法主要包括如下步骤:步骤1、提供一基板100,在玻璃基板100上沉积缓冲层200;步骤2、在缓冲层200上沉积非晶硅(a-Si)层300;步骤3、非晶硅层300上利用离子植入技术植入一定剂量的硼(boron),再通过快速热退火(Rapid Thermal Anneal,RTA)结晶技术加热20-30min,使非晶硅结晶成多晶硅(poly-Si),然后蚀刻掉结晶过程中从多晶硅表面析出的一层电阻很小的导电层,剩下需要的多晶硅层400;步骤4、通过黄光、蚀刻制程对多晶硅层400进行图案化处理,形成多晶硅半导体层450;步骤5、在多晶硅半导体层450上涂布光阻,通过对光阻进行曝光、显影,得到位于多晶硅半导体层450上的光阻层550,暴露出多晶硅半导体层450的两端区域;以光阻层550为遮蔽层,对多晶硅半导体层450的两端区域,通过离子植入技术植入硼离子,形成源/漏极接触区451;步骤6、剥离光阻层550,在多晶硅半导体层450上依次形成栅极绝缘层500、栅极600、层间绝缘层700、源/漏极800。
上述低温多晶硅TFT基板的制作方法中关于低温多晶硅的形成采用传统的SPC结晶制程,该SPC结晶制程虽然能得到均一性较好的晶粒,但是晶粒偏小,晶界较多,会影响载流子的迁移率和TFT器件的漏电流。
发明内容
本发明的目的在于提供一种低温多晶硅TFT基板的制作方法,能够有效提高结晶制程的晶化效率,增大晶粒尺寸,减少晶界数量,从而可以增强TFT器件载流子的迁移率,减小晶界对漏电流的影响,提高TFT的电性。
本发明的另一目的在于提供一种低温多晶硅TFT基板,多晶硅结晶的晶粒尺寸较大,晶界数量较少,TFT器件载流子的迁移率较高,TFT的电性较好。
为实现上述目的,本发明提供一种低温多晶硅TFT基板的制作方法,包括如下步骤:
步骤1、提供一基板,在基板上沉积缓冲层;
步骤2、在缓冲层上沉积一层导热绝缘薄膜,并对该导热绝缘薄膜进行图案化处理,得到导热绝缘层;
步骤3、在缓冲层上沉积非晶硅层,所述非晶硅层完全覆盖所述导热绝缘层;
步骤4、采用离子植入技术在非晶硅层内植入硼离子,再对非晶硅层进行快速热退火处理,使非晶硅结晶成多晶硅,然后通过蚀刻工艺蚀刻掉结晶过程中从多晶硅表面析出的导电层,得到多晶硅层;
步骤5、对多晶硅层进行图案化处理,形成多晶硅半导体层;
步骤6、在所述多晶硅半导体层上涂布光阻,通过对所述光阻进行曝光、显影,得到位于所述多晶硅半导体层上的光阻层,暴露出所述多晶硅半导体层的两端区域;以所述光阻层为遮蔽层,对所述多晶硅半导体层的两端区域通过离子植入技术植入硼离子,形成源/漏极接触区;
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