[发明专利]液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法。

背景技术

在液晶显示器(英文全称：Liquid Crystal Display，简称：LCD)的制造过程中，经常会有因液晶原材料污染及制造工艺对液晶的污染造成的产品不良，及时对液晶特性的检测可以准确分析不良原因，并提出解决方案，所以液晶特性的检测可以提高产品质量、节约生产成本，对生产具有非常重要的意义。

评价液晶特性的主要参数有：电压保持率(英文全称：Voltage Holding Radio，简称：VHR)、离子浓度(英文全称：Ion Density)和残留直流电压(英文全称：Residual Direct Current，简称：RDC)。目前对液晶特性的检测方式为：在实验室模拟生产线的生产条件制作小型液晶测试盒(英文名称：Mini cell)，对该小型液晶测试盒的液晶特性进行测试，获取VHR、离子浓度、RDC等参数，最后根据这些参数对生产线上的液晶显示设备内的液晶特性进行评价。但是，由于实验室无法完全模拟生产线的环境机身产设备，且生产线上的人为污染在实验室也无法模拟，所以用实验室制作的小型液晶测试盒内的液晶的特性参数评价生产线上的液晶显示设备内的液晶特性缺乏准确性。综上所述，如何使液晶显示设备内的液晶特性进行测试更加准确是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本发明的实施例提供一种液晶特性测试装置和方法以及显示面板和制造方法，用于接对液晶显示设备内的液晶特性进行测试。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种液晶特性测试装置，用于对液晶显示面板内的液晶的特性进行测试，所述液晶显示面板的公共电极和像素电极位于液晶层的同一侧，包括：设置于所述液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和测试元件组(英文全称：Test Element Group，简称：TEG)，所述测试电极设置于所述显示面板的封框胶外侧，所述测试元件组设置于所述显示面板的布线区域，所述引线穿过封框胶电连接所述测试电极和测试元件组；

所述测试电极包括：第一电极和第二电极；所述引线包括：第一引线和第二引线；所述测试元件组包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于所述第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘结构；

所述第一电极通过第一引线电连接所述第一透明电极图案，用于通过第一引线对所述第一透明电极图案加载电信号；

所述第二电极通过第二引线电连接所述第二透明电极图案，用于通过第二引线对所述第二透明电极图案加载电信号。

可选的，所述第一透明电极图案为面状透明电极图案，所述第二透明电极图案为梳齿状透明电极图案。

可选的，所述第一透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积，所述第二透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积。

可选的，所述第二透明电极图案的梳齿宽度与所述像素电极的宽度相同，所述第二透明电极图案的梳齿延伸方向与所述像素电极的延伸方向相同。

可选的，封框胶区域的所述第一引线和所述第二引线上设置有缝隙。

可选的，位于所述第一透明电极图案和所述第二透明电极图案之间的所述绝缘结构包括：第一绝缘结构和第二绝缘结构；

所述第一电极包括：第一金属结构和第三透明电极图案，所述第一金属结构通过过孔与所述第三透明电极图案电连接；

所述第二电极包括：第二金属结构和第四透明电极图案，所述第二金属结构通过过孔与所述第四透明电极图案电连接；

所述第一绝缘结构与所述显示面板的栅绝缘层同层制作，述第二绝缘结构与所述显示面板的源漏绝缘层同层制作，所述第一金属结构与所述第一引线同层制作，所述第二金属结构与所述第二引线同层制作，第三透明电极图案、第四透明电极图案与所述第二透明电极图案同层制作。

可选的，所述第一透明电极图案与所述公共电极同层制作，所述第一引线、所述第一金属结构与所述显示面板的栅金属层同层制作，所述第二引线、所述第二金属结构与所述显示面板的源漏金属层同层制作，所述第二透明电极图案、所述第三透明电极图案、所述第四透明电极图案与所述像素电极同层制作。

第二方面，提供一种应用于第一方面任一项所述的液晶特性测试装置的液晶特性测试方法，包括：

通过第一电极对第一透明电极图案加载第一电信号，通过第二电极对第二透明电极图案加载第二电信号；所述第一电极与第一透明电极图案通过第一引线电连接，所述第二电极与第二透明电极图案通过第二引线电连接；