[发明专利]液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法

权利要求书

1.一种液晶特性测试装置，用于对液晶显示面板内的液晶特性进行测试，所述液晶显示面板的公共电极和像素电极位于液晶层的同一侧，其特征在于，包括：设置于所述液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和测试元件组，所述测试电极设置于所述显示面板的封框胶外侧，所述测试元件组设置于所述显示面板的布线区域，所述引线穿过封框胶电连接所述测试电极和测试元件组；

所述测试电极包括：第一电极和第二电极；所述引线包括：第一引线和第二引线；所述测试元件组包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于所述第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘结构；

所述第一电极通过第一引线电连接所述第一透明电极图案，用于通过第一引线对所述第一透明电极图案加载电信号；

所述第二电极通过第二引线电连接所述第二透明电极图案，用于通过第二引线对所述第二透明电极图案加载电信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一透明电极图案为面状透明电极图案，所述第二透明电极图案为梳齿状透明电极图案。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积，所述第二透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第二透明电极图案的梳齿宽度与所述像素电极的宽度相同，所述第二透明电极图案的梳齿延伸方向与所述像素电极的延伸方向相同。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，封框胶区域的所述第一引线和所述第二引线上设置有缝隙。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，位于所述第一透明电极图案和所述第二透明电极图案之间的所述绝缘结构包括：第一绝缘结构和第二绝缘结构；

所述第一电极包括：第一金属结构和第三透明电极图案，所述第一金属结构通过过孔与所述第三透明电极图案电连接；

所述第二电极包括：第二金属结构和第四透明电极图案，所述第二金属结构通过过孔与所述第四透明电极图案电连接；

其中，所述第一绝缘结构与所述显示面板的栅绝缘层同层制作，述第二绝缘结构与所述显示面板的源漏绝缘层同层制作，所述第一金属结构与所述第一引线同层制作，所述第二金属结构与所述第二引线同层制作，第三透明电极图案、第四透明电极图案与所述第二透明电极图案同层制作。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一透明电极图案与所述公共电极同层制作，所述第一引线、所述第一金属结构与所述显示面板的栅金属层同层制作，所述第二引线、所述第二金属结构与所述显示面板的源漏金属层同层制作，所述第二透明电极图案、所述第三透明电极图案、所述第四透明电极图案与所述像素电极同层制作。

8.一种应用于权利要求1-7任意一项所述的液晶特性测试装置的液晶特性测试方法，其特征在于，包括：

通过第一电极对第一透明电极图案加载第一电信号，通过第二电极对第二透明电极图案加载第二电信号；所述第一电极与第一透明电极图案通过第一引线电连接，所述第二电极与第二透明电极图案通过第二引线电连接；

加载第一电信号的第一透明电极图案和加载第二电信号的第二透明电极图案之间产生电场；

所述电场使所述液晶层的液晶分子发生偏转；

通过检测所述液晶分子的偏转特性获取液晶特性。

9.一种液晶显示面板，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的液晶特性测试装置。

10.一种液晶显示面板的制造方法，其特征在于，包括：

在衬底基板上形成第一透明电极材料层，并通过构图工艺在所述第一透明电极材料层上形成公共电极和第一透明电极图案；

在形成有公共电极的和第一透明电极图案的衬底基板上形成第一金属材料层，并通过构图工艺在所述第一金属材料层上形成栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构，所述第一引线电连接所述第一透明电极图案和第一金属结构；

制作覆盖所述栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构的第一绝缘层；

在所述第一绝缘层上形成半导体有缘层；

在形成有半导体有缘层的衬底基板上形成第二金属材料层，并通过构图工艺在所述第二金属材料层上形成源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构，所述第二引线电连接所述第二金属结构；

制作覆盖所述源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构的第二绝缘层；

制作第一过孔、第二过孔、第三过孔和第四过孔；

在第二绝缘层上形成第二透明电极材料层，并通过构图工艺在所述第二透明电极材料层上形成像素电极、第二透明电极图案、第三透明电极图案、第四透明电极图案；所述像素电极通过第一过孔与所述漏电极电连接，所述第二透明电极图通过所述第二过孔与第二引线电连接，所述第一金属结构通过第三过孔与所述第三透明电极图案电连接，所述第二金属结构通过第四过孔与所述第四透明电极图案电连接。