[发明专利]压膜式芯片内埋的超薄封装结构及其制造方法在审
申请号: | 201510272031.7 | 申请日: | 2015-05-26 |
公开(公告)号: | CN104992933A | 公开(公告)日: | 2015-10-21 |
发明(设计)人: | 王孙艳;王亚琴 | 申请(专利权)人: | 江苏长电科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/49;H01L21/56 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所(普通合伙) 32210 | 代理人: | 唐纫兰 |
地址: | 214434 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 压膜式 芯片 超薄 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种压膜式芯片内埋的超薄封装结构及其制造方法,属于半导体封装技术领域。
背景技术
在当今电子信息时代,各类电子整机正向微小型化方面发展,驱动着半导体元器件往小型化、微型化方向发展,有些传感器功能器件为达到更好的信号感测能力,对于封装的薄形化提出了更高的要求。目前现有技术基本都是通过降低塑封体厚度的手段实现。现有塑胶模具体分两类,一类是铸塑模,通过降低模具塑封腔体厚度;另一类是压缩模,通过减少塑封料含量,实现薄形化封装需求。
目前铸塑模实现超薄化封装面临的困难:
1、一套模具的腔体厚度是固定的,无法满足灵活多变的封装体厚度要求。面对多变的封装体厚度,需要开不同腔体厚度的模具,治具成本和管理成本较高;
2、超薄化的腔体厚度,对于塑封料的材料特性要求苛刻,制程工艺将面临芯片超薄化碎片、超低线弧弧高控制不稳定、塑封料填充困难,露芯片,反包空洞、翘曲等一系列工艺问题;
3、对于超薄化密间距空隙的填充,制程工艺将面临填充性困难、塑封树脂溢胶等工艺问题。
发明内容
本发明的目的在于克服上述不足,提供一种压膜式芯片内埋的超薄封装结构及其制造方法,它通过压膜技术实现超密间隙的填充,并可通过调整不同厚度的薄膜及配合薄膜刷膜减薄工艺,实现压模式芯片内埋的超薄封装。
本发明的目的是这样实现的:一种压膜式芯片内埋的超薄封装结构,它包括基板,所述基板上贴装有元器件和芯片,所述芯片正面与基板正面之间通过焊线相连接,所述基板正面设置有一层绝缘性薄膜,所述绝缘性薄膜覆盖于元器件、芯片和焊线外围区域。
一种压膜式芯片内埋的超薄封装结构的制造方法,
步骤一、取一基板;
步骤二、在基板上进行芯片和元器件的贴片作业;
步骤三、对基板表面和芯片表面进行打线作业;
步骤四、基板正面压合一层绝缘性薄膜;
步骤五、绝缘性薄膜受热流动完成对芯片、元器件和焊线的压膜封装。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
1、通过压膜技术,实现将芯片、元件、焊线等系统级封装模块单元的埋入;
2、通过薄膜厚度调整及配合薄膜刷膜技术,实现超密间隙的填充和超薄式封装,给半导体元器件往小型化、微型化方向发展提供一种更具优势和灵活性的封装手段。
附图说明
图1为本发明一种压膜式芯片内埋的超薄封装结构的示意图。
其中:
基板1
元器件2
芯片3
焊线4
绝缘性薄膜5。
具体实施方式
参见图1,本发明一种压膜式芯片内埋的超薄封装结构,它包括基板1,所述基板1上贴装有元器件2和芯片3,所述芯片3正面与基板1正面之间通过焊线4相连接,所述基板1正面设置有一层绝缘性薄膜5,所述绝缘性薄膜5覆盖于元器件2、芯片3和焊线4外围区域。
其制造方法如下:
步骤一、取一基板;
步骤二、在基板上进行芯片和元器件的贴片作业;
步骤三、对基板表面和芯片表面进行打线作业;
步骤四、基板正面压合一层绝缘性薄膜;
步骤五、绝缘性薄膜受热流动完成对芯片、元器件和焊线的压膜封装。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏长电科技股份有限公司,未经江苏长电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510272031.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:功率半导体器件子模组
- 下一篇:导电过孔结构、阵列基板和显示装置的制作方法