[发明专利]一种X射线干式变压器绕组材质检测方法在审
| 申请号： | 201510250098.0 | 申请日： | 2015-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN104865278A | 公开（公告）日： | 2015-08-26 |
| 发明（设计）人： | 胡加瑞;谢亿;欧阳克俭;刘纯;廖青山;李文波 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;国网湖南省电力公司;国网湖南省电力公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人： | 邓建辉 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 射线 变压器 绕组 材质 检测 方法 | ||
1.一种X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：步骤如下：
(1)、提前20小时～30小时准备洗片药水；
(2)、检测前将底片紧贴在待检干式变压器高压线圈检测部位的背部，X射线系统的焦点射线源垂直置于待检位置的正面，与成像板相距480mm～520mm；
(3)、对干式变压器高压线圈进行垂直透射，射线源管电压范围在140kV～160kV，曝光时间在55秒～65秒；
(4)、洗片，显影时间65秒～75秒，定影时间为290秒～310秒；
(5)、此时利用黑度计进行黑度测试，黑度在0.2-1.4为铜质绕组，黑度在1.5-2.5为铝质绕组；
(6)、进行内侧低压绕组测试，将底片紧贴在低压线圈检测部位的背部，X射线系统的焦点射线源与底片的焦距为580mm～620mm，射线源管电压240kV～260kV，曝光时间在55秒～65秒；
(7)、洗片，显影时间65秒～75秒，定影时间为290秒～310秒；
(8)、利用黑度计进行黑度测试，黑度在0.2-0.8为铜质绕组，黑度在0.9-1.6为铝质绕组。
2.根据权利要求1所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(1)中提前准备洗片药水的时间为24小时。
3.根据权利要求1或2所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(2)中X射线系统的焦点射线源与成像板相距500mm。
4.根据权利要求1或2所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(3)中射线源管电压为150kV，曝光时间为60秒。
5.根据权利要求1或2所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(4)中洗片显影时间70秒，定影300秒。
6.根据权利要求1或2所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(6)中X射线系统的焦点射线源与底片的焦距为600mm。
7.根据权利要求1或2所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(6)中射线源管电压为250kV，曝光时间为60秒。
8.根据权利要求1或2所述的X射线干式变压器绕组材质检测方法，其特征是：上述步骤(7)中洗片显影时间为70秒，定影时间为300秒。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家电网公司;国网湖南省电力公司;国网湖南省电力公司电力科学研究院，未经国家电网公司;国网湖南省电力公司;国网湖南省电力公司电力科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510250098.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种表征非晶合金微观结构的方法
- 下一篇：基于无源光学水印的硬件木马检测方法
