[发明专利]平板探测器的坏点校正方法

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种平板探测器的坏点校正方法。

背景技术

在许多领域，均需使用到平板探测器，例如，在数字化摄片中，X线能量转换成电信号是通过平板探测器来实现的，所以平板探测器的特性会对DR图像质量产生比较大的影响，选择DR必然要考虑到平板探测器的因素，医院也应当根据实际需要选择适合自己的平板探测器。

在平板探测器中，当某一像元对于X射线不响应或者响应异常时，将此类探测器像元称为坏点。具体地说，坏点是指不随感光变化，始终呈现一种颜色(例如，白色、黑色或彩色)的像素点，从而破坏了高清图像的清晰图和完整性。平板探测器中坏点的存在是图像质量下降的原因之一，并且，由于坏点的增多，低噪环境下图像会更加差，容易影响平板探测器的正常使用和成像。

如上所述，当平板探测器中存在坏点时，会使采集到的数据发生异常，进而使重建图像中出现噪声以及伪影，大大降低了图像质量，因此在成像完成后需要对平板探测器进行坏点校正。但是，现有的校正方法基本是对检测出的坏点直接进行校正，其校正难度较大，且不具有高准确性，严重影响着平板探测器成像的质量。

发明内容

为提高坏点校正的准确性，本发明提供了一种平板探测器的坏点校正方法，包括：

对平板探测器进行坏点识别；

遍历所述平板探测器的所有坏点，将第一半径的坏点簇以及第一长度的坏点线定义为第一类坏点；将孤立坏点、第二半径的坏点簇以及第二长度的坏点线定义为第二类坏点；其中，所述第二长度小于所述第一长度，所述第二半径小于所述第一半径；

对所述第一类坏点与所述第二类坏点分别进行校正。

可选地，先校正所述第二类坏点，再校正所述第一类坏点。

可选地，对所述第一类坏点进行校正时，先校正所述第一半径的坏点簇，再校正所述第一长度的坏点线。

可选地，校正所述第二类坏点的方法包括：

采用所述第二类坏点周围3×3像素范围内的所有正常像素的平均像素值对坏点像素进行修正。

可选地，所述第二半径的坏点簇是指以一坏点为中心的3×3像素邻域范围内具有其他坏点，并且紧邻所述3×3像素邻域的外围像素不具有其他坏点的坏点簇。

可选地，所述第一半径的坏点簇是指以一坏点为中心的3×3像素邻域范围内具有其他坏点，并且紧邻所述3×3像素邻域的外围像素也具有其他坏点的坏点簇。

可选地，所述第一长度的坏点线是指同一行或列上长度大于该行像素一半，并且该行或列相邻两行或列相对应的位置不存在坏点的坏点线。

可选地，所述第二长度的坏点线是指同一行或者列上的连续长度大于3个像素且小于等于该行或列像素一半，并且该行或列相邻的两行或列相对应的位置不存在坏点的坏点线。

可选地，校正所述第一类坏点中第一半径的坏点簇的方法是双线性插值法。

可选地，所述双线性插值法包括：首先初始化坏点双线性插值模板的大小为3×3像素，判断模板四个端点像素是否为正常像素，如果是则采用四个端点像素值得平均作为校正值，如果不是，则增大双线性插值的模板大小，直到四个端点的像素点都为正常像素。

可选地，校正所述第一类坏点中第一长度的坏点线的方法是三样条插值法。

可选地，当所述第一长度的坏点线位于图像边界时，校正所述第一长度的坏点线的方法是，采用与所述第一长度的坏点线相邻点的正常像素值对坏点线进行替换。

可选地，对于所述第一长度的水平坏点线的校正，采用竖直方向的样条插值法；对于所述第一长度的竖直坏点线的校正，采用水平方向的样条插值法。

可选地，进行所述坏点识别的方法包括：

在所述平板探测器中分别输入某一扫描剂量下采集的多幅暗场、亮场和增益系数图像数据，得出平均暗场图像、平均亮场图像和增益系数矩阵；

分别根据所述平均暗场图像、平均亮场图像以及增益系数矩阵的灰度直方图计算出三种坏像素的判断范围，所述三种坏像素包括暗电流超界坏像素、不稳定坏像素以及响应超界坏像素；以及

根据所述三种坏像素的判断范围分别遍历暗场、亮场以及增益系数图像的像素点，得出并标记所有坏点。

本发明提供的平板探测器的坏点校正方法，对平板探测器进行坏点识别以得出坏点图像，将所有坏点分为第一类坏点和第二类坏点，并分别采取不同的方法校正第一类坏点和第二类坏点。此方法对相对独立的坏点和相对集中的坏点分别采取不同的方法进行校正，可以降低校正难度，提高校正的准确性。

附图说明