[发明专利]测试分选机及利用此的电子部件测试方法

权利要求书

1.一种测试分选机，用于使电子部件在包含装载位置、测试位置以及卸载位置的预定路径上依次循环并得到测试，从而根据测试结果将所述电子部件按等级进行分类，其中，所述测试分选机包括：

装载部，用于装载所述电子部件；

测试支持部，用于使装载完毕的所述电子部件能够得到测试；

卸载部，用于使测试完毕的所述电子部件按等级得到分类而被卸载；以及

控制部，用于控制所述装载部、所述测试支持部以及所述卸载部，

所述控制部在先行测试的相应于第一批量的电子部件被装载完毕时，使晚于所述第一批量而得到测试的相应于第二批量的电子部件中的至少一部分得到装载，

其中，所述卸载部包括：

良品收容部，用于收容相应于所述第一批量的电子部件中的良品或相应于所述第二批量的电子部件中的良品；

第一重测收容部，用于收容相应于所述第一批量的电子部件中的需要重新测试的第一重测对象品；以及

第二重测收容部，用于收容相应于所述第二批量的电子部件中的需要重新测试的第二重测对象品。

2.一种测试分选机，用于使电子部件在包含装载位置、测试位置以及卸载位置的预定路径上依次循环并得到测试，从而根据测试结果将所述电子部件按等级进行分类，其中，所述测试分选机包括：

装载部，用于装载所述电子部件；

测试支持部，用于使装载完毕的所述电子部件能够得到测试；

卸载部，用于使测试完毕的所述电子部件按等级得到分类而被卸载；以及

控制部，用于控制所述装载部、所述测试支持部以及所述卸载部，

所述控制部在先行测试的相应于第一批量的电子部件被装载完毕时，使晚于所述第一批量而得到测试的相应于第二批量的电子部件中的至少一部分得到装载，

其中，控制部将测试完毕的相应于所述第一批量的电子部件分类为良品和重测对象品而完成卸载，

其中，所述控制部在相应于所述第一批量的电子部件的卸载完毕时，使相应于所述第二批量的电子部件的装载中断，并使相应于所述第一批量的电子部件中的需要重新测试的第一重测对象品得到装载，而在所述第一重测对象品的装载完毕时，使相应于所述第二批量的电子部件中的尚未被装载的剩余部分得到装载。

3.一种测试分选机，用于使电子部件在包含装载位置、测试位置以及卸载位置的预定路径上依次循环并得到测试，从而根据测试结果将所述电子部件按等级进行分类，其中，所述测试分选机包括：

装载部，用于装载所述电子部件；

测试支持部，用于使装载完毕的所述电子部件能够得到测试；

卸载部，用于使测试完毕的所述电子部件按等级得到分类而被卸载；以及

控制部，用于控制所述装载部、所述测试支持部以及所述卸载部，

所述控制部在先行测试的相应于第一批量的电子部件被装载完毕时，使晚于所述第一批量而得到测试的相应于第二批量的电子部件中的至少一部分得到装载，

其中，控制部将测试完毕的相应于所述第一批量的电子部件分类为良品和重测对象品而完成卸载，

其中，所述控制部在相应于所述第一批量的电子部件的卸载完毕时，使相应于所述第二批量的电子部件的装载中断，并使相应于所述第一批量的电子部件中的需要重新测试的第一重测对象品得到装载，而在所述第一重测对象品的装载完毕时，使相应于所述第二批量的电子部件中的尚未被装载的剩余部分得到装载，

其中，所述卸载部包括：

良品收容部，用于收容相应于所述第一批量的电子部件中的良品或相应于所述第二批量的电子部件中的良品；

第一重测收容部，用于收容相应于所述第一批量的电子部件中的需要重新测试的第一重测对象品；以及

第二重测收容部，用于收容相应于所述第二批量的电子部件中的需要重新测试的第二重测对象品。

4.如权利要求1或3所述的测试分选机，其中，所述控制部在相应于所述第一批量的电子部件的卸载完毕时，使相应于所述第二批量的电子部件的装载中断，并使收容于所述第一重测收容部的所述第一重测对象品得到装载，而在所述第一重测对象品的装载完毕时，使相应于所述第二批量的电子部件中的尚未被装载的剩余部分得到装载。