[发明专利]一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置。

背景技术

目前，显示产品在生产过程中会出现一定的不良缺陷，且不良缺陷大多有一定的区域趋向性，表现为集中在某一区域发生聚集，针对发生的不良缺陷聚集，现有技术中对于显示产品的不良聚集基本上都是肉眼查看，肉眼观测显示产品上的不良缺陷聚集很费时费事，因为大部分显示产品是不会发生严重聚集的，因此肉眼观测无法保证精确地观测出显示产品的不良缺陷分布情况，且易造成漏检，增大了量产风险。

因此，如何保证精确的观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，从而减少量产风险，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，用以解决现有技术中存在的肉眼观测显示产品上的不良缺陷聚集很费时费事且无法保证精确地观测出显示产品的不良缺陷分布情况的问题。

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法，所述玻璃基板上包括多个显示面板，所述显示方法包括：

根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，还包括：

对所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，具体包括：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，还包括：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，具体包括：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。

本发明实施例提供了一种采用本发明实施例提供的上述玻璃基板的缺陷分布显示方法的显示装置，包括：检测单元、分析计算单元和显示单元；

所述检测单元用于对所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息；

所述分析计算单元用于根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

所述显示单元用于将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示装置中，所述分析计算单元，具体用于：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示装置中，所述分析计算单元，还用于：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示装置中，所述显示单元，具体用于：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。

本发明实施例的有益效果包括：